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龙图腾网获悉苏州赛迈测控技术有限公司申请的专利一种芯片分选测试设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119869972B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510219361.3，技术领域涉及：B07C5/34；该发明授权一种芯片分选测试设备是由张熠;王文斌;胥怡心设计研发完成，并于2025-02-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片分选测试设备在说明书摘要公布了：本发明涉及电子元件检测技术领域，公开了一种芯片分选测试设备，包括外壳，所述外壳的内底壁固定连接有第三调节板，所述第三调节板的内壁滑动连接有调节杆，所述调节杆的上表面固定连接有第二料盘，所述第二料盘的下表面固定连接有限位导杆，所述外壳的上表面固定连接有桌板，所述桌板的内壁设置有适应检测测试组件，所述适应检测测试组件的下表面设置收集组件，所述桌板的两侧设置有用于检测的检测测试槽。通过调节杆在第三调节板的限位下运动让第二料盘在限位导杆和限位板的限位下下降，起到了更换区域进行测试和检测的效果，避免因区域限制无法安装多种检测设备，从而进一步增加检测多样性的效果。

本发明授权一种芯片分选测试设备在权利要求书中公布了：1.一种芯片分选测试设备，包括外壳1，其特征在于：所述外壳1的内底壁固定连接有第三调节板3，所述第三调节板3的内壁滑动连接有调节杆11，所述调节杆11的上表面固定连接有第二料盘10，所述第二料盘10的下表面固定连接有限位导杆12，所述限位导杆12的外壁滑动连接有限位板7，所述外壳1的外壁设置驱动组件，所述限位板7的下表面滑动连接在第三调节板3的上表面，所述驱动组件的外壁固定连接有连接板8，所述连接板8的上表面固定连接有第一料盘9，所述第一料盘9的下表面滑动连接在外壳1的上表面，所述外壳1的上表面固定连接有桌板2，所述桌板2的内壁设置有适应检测测试组件，所述适应检测测试组件的下表面设置收集组件，所述桌板2的两侧设置有用于检测的检测测试槽； 所述适应检测测试组件包括连接套15，所述连接套15的外壁固定连接在桌板2的内壁，所述连接套15的内壁固定连接有第二电机16，所述第二电机16的输出端固定连接有第一齿轮17，所述第一齿轮17的齿端啮合连接有齿环18；所述齿环18的齿端啮合连接有第二齿轮19，所述第二齿轮19的外壁啮合连接有齿条20，所述齿条20设置两组分布在连接套15的上下两侧内壁；上侧所述齿条20的外壁固定连接有第一调节板21，下侧所述齿条20的外壁固定连接有第二调节板22，所述第一调节板21的上表面滑动连接在连接套15的上表面，所述第二调节板22的上表面滑动连接在连接套15的下表面。

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