北京理工大学盛新庆获国家专利权
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龙图腾网获悉北京理工大学申请的专利一种可调磁场辅助的等离子体剖面诊断方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119830559B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411893306.4，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权一种可调磁场辅助的等离子体剖面诊断方法是由盛新庆;于川平;黄晓伟设计研发完成，并于2024-12-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种可调磁场辅助的等离子体剖面诊断方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种可调磁场辅助的等离子体剖面诊断方法，从磁化等离子体的电磁特性出发，先推导了磁化等离子体的介电常数，随后将其代入计算公式中，探究不同磁场对电磁波传输产生的影响，针对电子密度较大的等离子体模型，利用可调磁场辅助进行等离子体参数诊断。本发明是一种外加磁场可以改变等离子体的介质特性，进而改变电磁波的反射系数及截止区域范围的方法，考虑利用静磁场增加反射系数的信息维度，提高结果准确性的同时降低所需入射波频带带宽，并利用遗传算法解决无法直接求解复杂映射关系这一问题，实现了等离子体参数多物理量的原位诊断。
本发明授权一种可调磁场辅助的等离子体剖面诊断方法在权利要求书中公布了：1.一种可调磁场辅助的等离子体剖面诊断方法，其特征在于，包括以下步骤： S1、通过外加磁场磁化等离子体； S2、计算当前磁化等离子体的相对介电常数； S3、基于计算出的相对介电常数，分析电磁波在等离子体中的传输特性，进而确定当前外加磁场的入射波频段对应反射系数是否为实现等离子体剖面诊断所需数据； 若否，则进入步骤S4； 若是，则进入步骤S5； S4、调整外加磁场的入射波频段，重新磁化等离子体，并返回步骤S2； S5、通过遗传算法分析不同磁场强度与反射系数之间的映射关系，实现等离子体剖面诊断。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
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