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龙图腾网获悉中国人民解放军空军工程大学申请的专利一种基于层叠样品透射谱解析法测定透明固体光学常数的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119738372B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510091527.8，技术领域涉及：G01N21/25；该发明授权一种基于层叠样品透射谱解析法测定透明固体光学常数的方法是由王静荔;杨百愚;徐翠莲;王军;刘静;范琦设计研发完成，并于2025-01-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于层叠样品透射谱解析法测定透明固体光学常数的方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种基于层叠样品透射谱解析法测定透明固体光学常数的方法，属于光谱学、光学测量领域，本发明的原理是将厚度相同的平板状样品材料层叠起来，测量其中两种层叠组合样品的透射率，通过代数运算导出光垂直通过厚度为L的单层样品的透射率t和反射率r，然后通过解析法求得衰减因子y和界面反射率R，进而求得样品的消光系数k和折射率n，从而实现透明固体光学常数的测定。本发明解决了现有技术中单层样品双光谱法测量反射、透射光谱条件不一致的问题，也解决了层叠样品透射光谱反演法中存在的迭代误差和计算耗时问题，大大简化了实验测量和求解计算过程。

本发明授权一种基于层叠样品透射谱解析法测定透明固体光学常数的方法在权利要求书中公布了：1.一种基于层叠样品透射谱解析法测定透明固体光学常数的方法，其特征在于，包括以下步骤： S1，将同种材料且规格一致、厚度均为L的多个样品层叠平行放置，获得层叠样品； S2，使用光谱仪分别测量光线垂直通过单层样品的透射率t1和通过层叠样品的透射率tn； S3，根据步骤S2所得的t1和tn，得到单层样品的透射率t和反射率r； S4，根据步骤S3得到的单层样品的透射率t和反射率r，通过解析解求得衰减因子y；进一步求得样品的衰减系数α和消光系数k； S5，根据步骤S3得到的单层样品的透射率t和反射率r，通过解析解求得界面反射率R，再由菲涅耳定律和斯涅耳定律得到界面反射率R，进一步求得样品的折射率n； 所述步骤S1中层叠样品的相邻样品间隔的空气层厚度满足不考虑干涉效应的条件； 所述多个样品层叠平行放置为2个样品层叠平行放置，具体包括以下步骤： S1，将同种材料且规格一致、厚度均为L的2个样品层叠平行放置，获得层叠样品； S2，使用光谱仪分别测量光线垂直通过一个样品的透射率t1、通过两个样品的透射率t2： 1 2 S3，联立式1、2，由t1和t2可得： 3 4 S4，根据步骤S3得到的单层样品的透射率t和反射率r，进一步得到衰减因子y为： 5 则样品的衰减系数α和消光系数k分别为： 6 7 其中，λ为光在真空中的波长； S5，根据步骤S3得到的单层样品的透射率t和反射率r，进一步得到界面反射率R为： 8 再由菲涅耳定律和斯涅耳定律得界面反射率，得到样品的折射率n为： 9。

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