中国科学院西安光学精密机械研究所陈明徕获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院西安光学精密机械研究所申请的专利一种基于四站构型的交会测量系统和方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119687893B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-12发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411744009.3,技术领域涉及:G01C21/00;该发明授权一种基于四站构型的交会测量系统和方法是由陈明徕;刘文;周亮;朱晨曦;谢梅林;崔凯设计研发完成,并于2024-11-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于四站构型的交会测量系统和方法在说明书摘要公布了:本发明涉及交会测量系统,具体涉及一种基于四站构型的交会测量系统和方法,解决现有两站构型的交会测量系统无法满足极限交会角状态下的目标定位的技术问题,本发明的基于四站构型的交会测量系统的四个光电跟踪与测量设备呈正方形分布,且相邻两者的基线距离A=X,X为预设的目标观测距离;在同一观测时刻,四个光电跟踪与测量设备协同观测目标,并且通过第一光电跟踪与测量设备计算相邻两个光电跟踪与测量设备之间的交会角,相较于传统两站构型仅有一组交会角,可以得到四组交会角,并根据交会角择优原则,选择定位精度最好的一组光电跟踪与测量设备的数据进行交会定位,提高目标定位精度和可测工况覆盖率。
本发明授权一种基于四站构型的交会测量系统和方法在权利要求书中公布了:1.一种基于四站构型的交会测量方法,采用一种基于四站构型的交会测量系统,包括四个光电跟踪与测量设备,分别为第一光电跟踪与测量设备1至第四光电跟踪与测量设备4;所述第一光电跟踪与测量设备1至第四光电跟踪与测量设备4呈正方形分布,且第一光电跟踪与测量设备1分别和第二光电跟踪与测量设备2、第三光电跟踪与测量设备3以及第四光电跟踪与测量设备4电连接;定义相邻两个光电跟踪与测量设备之间的距离为基线距离A,则有其中:X为预设的目标观测距离;其特征在于:包括以下步骤: S1、将第一光电跟踪与测量设备1至第四光电跟踪与测量设备4呈正方形分布布置,并且根据预设的目标观测距离X设置第一光电跟踪与测量设备1至第四光电跟踪与测量设备4之间相邻两者的基线距离A,使得; S2、第一光电跟踪与测量设备1至第四光电跟踪与测量设备4实时提取目标在图像中的坐标并计算出目标角轨迹,第二光电跟踪与测量设备2至第四光电跟踪与测量设备4将各自的站址坐标和计算出的目标角轨迹发送至第一光电跟踪与测量设备1中; S3、第一光电跟踪与测量设备1利用四个光电跟踪与测量设备测到的目标角轨迹,计算出相邻两个光电跟踪与测量设备之间的交会角; S4、选取交会角最优的一对光电跟踪与测量设备,光电跟踪与测量设备的成像时间包含固定偏差,此时保持其中一个光电跟踪与测量设备的角轨迹不变,另一台光电跟踪与测量设备基于角轨迹不变的光电跟踪与测量设备的成像时间,对目标角轨迹进行拉格朗日插值处理; S5、利用拉格朗日插值后得到的目标角轨迹以及两个光电跟踪与测量设备的站址坐标,通过交会计算得到目标的三维轨迹和速度; S6、重复步骤S2至步骤S5,完成指定时间段内基于四站构型的目标交会测量。
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