中国科学院光电技术研究所张昂获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院光电技术研究所申请的专利一种相位可调的消零干涉系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119644583B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-12发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411862506.3,技术领域涉及:G02B27/00;该发明授权一种相位可调的消零干涉系统是由张昂;周宇立;张俊波;李新梦;谭向文;徐迪设计研发完成,并于2024-12-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种相位可调的消零干涉系统在说明书摘要公布了:本发明公开了一种相位可调的消零干涉系统,涉及光电测量领域,包括第一望远镜和第二望远镜、第一准直透镜、第二准直透镜、相位调节装置、多个平面镜、分光镜、凸透镜、探测器以及控制装置。入射光分别通过第一和第二望远镜,经第一和第二准直透镜转化为平行光束。其中一路光束经相位调节装置进行相位调整,随后两路光束经多个平面镜继续传输。在分光镜处,两束光发生相干叠加,产生干涉图案。该图案经凸透镜聚焦于探测器平面,形成可供分析的干涉成像。探测器接收图像并传输至控制装置,控制装置处理并分析图像并控制相位调节装置以调节两路光线的相位差,实现干涉条纹的移动。
本发明授权一种相位可调的消零干涉系统在权利要求书中公布了:1.一种相位可调的消零干涉系统,其特征在于,包括第一望远镜和第二望远镜、第一准直透镜和第二准直透镜、相位调节装置、多个平面镜、分光镜、凸透镜、探测器以及控制装置;一路入射光通过第一望远镜,经第一准直透镜转化为平行光束;另一束入射光通过第二望远镜,经第二准直透镜转化为平行光束,其中一路光束经相位调节装置进行相位调整,随后两路光束经多个平面镜继续传输,在分光镜处,两束光发生相干叠加,产生干涉图案,该图案经凸透镜聚焦于探测器平面,形成可供分析的干涉图像,探测器接收图像并传输至控制装置,控制装置处理并分析图像并控制相位调节装置以调节两路光线的相位差,实现干涉条纹的移动; 控制装置获取探测器采集的图像,采用正弦拟合方法分析干涉图案,干涉图案的条纹强度分布表示为: 其中,Ix为位置x处的光强,I0为平均光强,V为条纹的对比度,Λ为条纹周期,φ0为初始相位,α为衰减系数,x0为条纹包络中心;拟合确定各暗条纹的中心位置,即光强最低的位置,记录暗条纹中心光强和位置Ipn,xn,yn,并根据相位差和条纹位置信息进行进一步分析,为后续的条纹移动提供依据,结合当前位置参数,判断条纹移动的方向和距离,随后控制相位调节装置调整两路光线的相位差,实现干涉条纹的移动; 系统对行星的光强分布进行拟合和重建,重建过程采用拟合方法,假设行星的光强分布用高斯分布表示: 其中,I0为行星的峰值光强,x0,y为行星的中心位置,σ为光斑的标准偏差,通过对暗条纹中心测量得到的In,xn,yn进行拟合,求解出参数I、x、y和σ,从而确定行星的位置和特征; 通过控制装置调节相位调节装置改变光程差ΔL以调整相位差Δφ,使干涉条纹按照预定方向和距离移动,条纹的移动量Δx与相位差Δφ的变化满足以下关系: 其中,f为消零干涉系统的焦距,d为第一望远镜和第二望远镜的间距; 每次相位调整后,重新捕获移动后的条纹位置,并提取新的暗条纹中心位置数据,通过多次调整相位差并移动条纹,累积在不同相位条件下获取的条纹位置数据,形成丰富的测量数据,这些累积的数据用于拟合高斯分布模型,对行星的光强分布进行拟合和重建,从而获取完整的行星图像信息。
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