长光驰宇科技(长春)有限公司杨斌获国家专利权
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龙图腾网获悉长光驰宇科技(长春)有限公司申请的专利光谱成像装置辐射定标方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119413283B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-12发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411633779.0,技术领域涉及:G01J3/28;该发明授权光谱成像装置辐射定标方法及系统是由杨斌;吴旋;马桂仓设计研发完成,并于2024-11-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本光谱成像装置辐射定标方法及系统在说明书摘要公布了:本发明公开了一种光谱成像装置辐射定标方法及系统,构建光谱成像装置的像元的辐射响应模型,将目标光在光谱维和辐射维变化,在不同的光谱或和辐亮度的目标光下获得目标光的光谱辐亮度数据和光谱成像装置的像元的响应数据,根据光谱辐亮度数据获得像元接收到多种波段光的等效辐亮度值,进而根据像元接收到多种波段光的等效辐亮度值以及像元的响应数据,获得辐射响应系数值,获得描述像元的响应值与像元接收到多种波段光的辐亮度关系的辐射响应模型,本发明实现了对将光谱信息与空间信息耦合的光谱成像装置的辐射定标。
本发明授权光谱成像装置辐射定标方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种光谱成像装置辐射定标方法,其特征在于,所述光谱成像装置用于获取目标光并将所述目标光分离出多种波段光,所述光谱成像装置的像元用于对所述多种波段光产生响应; 所述光谱成像装置辐射定标方法包括: 构建所述光谱成像装置的像元的辐射响应模型,所述像元的所述辐射响应模型描述了所述像元的响应值,与所述像元接收到的所述多种波段光的辐亮度的关系,所述辐射响应模型包括辐射响应系数; 控制所述目标光在光谱维和辐射维变化,在不同的光谱或和辐亮度的所述目标光下,测量所述目标光的光谱辐亮度以及使所述光谱成像装置获取所述目标光以获得所述像元的响应值,获得多组所述目标光的光谱辐亮度数据以及所述像元的响应数据; 对于任一组所述光谱辐亮度数据,根据本组的所述光谱辐亮度数据获得本组对应的所述目标光中所述多种波段光的任一种波段光的辐亮度值; 根据所述像元的第一光谱响应函数获得所述多种波段光使所述像元产生响应的能量贡献比例,并对于任一组所述光谱辐亮度数据,根据所述像元对应所述多种波段光的所述能量贡献比例以及根据本组对应的所述目标光中所述多种波段光的所述辐亮度值,获得所述像元接收到本组对应的所述目标光中所述多种波段光的等效辐亮度值,所述像元的所述第一光谱响应函数描述了光进入所述光谱成像装置时所述像元对不同波长光的响应能力; 根据多组获得的所述像元接收到所述目标光中所述多种波段光的等效辐亮度值以及每一组对应的所述像元的响应数据,获得辐射响应系数值,获得所述辐射响应系数值对应的所述辐射响应模型。
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