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龙图腾网获悉西安电子科技大学申请的专利一种基于均匀圆阵的相位差变化率定位方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118795412B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410940576.X，技术领域涉及：G01S5/02；该发明授权一种基于均匀圆阵的相位差变化率定位方法是由臧博;王书迪;龙璐岚;刘振龙;李林;张文博;姬红兵设计研发完成，并于2024-07-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于均匀圆阵的相位差变化率定位方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于均匀圆阵的相位差变化率定位方法，首先使用均匀圆阵完成对辐射源信号的数据采集，通过频域鉴相方式，对两阵元接收信号做傅里叶变换，再求其相关谱Yω的谱峰位置，获取该处的相位值即为模糊基线相位差；然后遍历全部的模糊数，利用相似度计算的方式，实现圆阵解模糊，去除鉴相过程产生的整周模糊影响，得到各个基线的无模糊相位差，最后设定0阵元为中心阵元的基线组为基本组，遍历圆阵各个阵元，分别得到不同基线组的定位结果，再基于相位差变化率对各组结果进行加权，得到最终的辐射源空间位置；本发明算法对检测阵型进行改进，使用均匀圆阵完成整体检测，提升了算法的全向检测能力。

本发明授权一种基于均匀圆阵的相位差变化率定位方法在权利要求书中公布了：1.一种基于均匀圆阵的相位差变化率定位方法，其特征在于，所述方法具体按以下步骤实施： 步骤1，相位解模糊； 使用均匀圆阵完成对辐射源信号的数据采集，通过阵元接收信号获取其相关谱的谱峰位置，通过谱峰位置的相位值确定基线相位差，根据均匀圆阵阵元数量计算各基线长度，判断基线长度与辐射源频率的关系，确定相位模糊的存在，然后得出存在的模糊数范围，然后遍历模糊数，得到各基线的无模糊相位差； 步骤2，基于交叉基线的相位差变化率定位，具体方式如下： 将M元均匀圆阵划分成M个基线组，各个基线组对应的无模糊基线相位差为、，相位差变化率为、； 具体定位按以下步骤实施： 步骤2.1，获取方位角变化率，选择基线组，检测基线组的相位差，通过相位差得到相位差变化率，然后获取相位差变化率的理论值，通过相位差变化率的理论值得到方位角变化率以及俯仰角变化率数据； 步骤2.2，通过差分法计算实际相位差变化率； 步骤2.3，通过步骤2.1和步骤2.2得到的数据解算辐射源位置坐标； 步骤3，最后对步骤2得到的若干组定位结果加权处理。

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