珠海天威微电子股份有限公司文冠果获国家专利权
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龙图腾网获悉珠海天威微电子股份有限公司申请的专利耗材芯片的验证响应方法、耗材容器的验证方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117301726B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311414135.8，技术领域涉及：B41J2/175；该发明授权耗材芯片的验证响应方法、耗材容器的验证方法是由文冠果;罗寿杰;车秩柳设计研发完成，并于2023-10-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本耗材芯片的验证响应方法、耗材容器的验证方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种耗材芯片的验证响应方法、耗材容器的验证方法，该验证响应方法包括耗材芯片接收验证指令，并且，根据验证指令确定验证响应信号的验证时段，并确认每一验证时段的验证电平；在初始验证电平为高电平的验证时段输出高电平信号，并且在至少一个初始验证电平为低电平的验证时段设置为高阻态。该耗材容器的验证方法包括打印设备向至少一个耗材容器发送验证指令；并且，耗材容器的耗材芯片接收到验证指令后，执行上述的耗材芯片的验证响应方法；打印设备接收到耗材芯片发送的验证响应信号后，根据所接收到的验证响应信号确定耗材容器的状态。本发明能简化耗材芯片响应验证指令的控制逻辑，减低耗材芯片的控制逻辑实现难度，生产成本较低。
本发明授权耗材芯片的验证响应方法、耗材容器的验证方法在权利要求书中公布了：1.耗材芯片的验证响应方法，包括： 耗材芯片接收验证指令； 其特征在于： 根据所述验证指令确定验证响应信号的验证时段，并确认每一所述验证时段的验证电平； 在初始验证电平为高电平的验证时段输出高电平信号，并且在至少一个初始验证电平为低电平的验证时段设置为高阻态； 其中，所述初始验证电平为低电平的验证时段的数量为二个； 在第一个所述初始验证电平为低电平的验证时段输出低电平信号，在第二个所述初始验证电平为低电平的验证时段设置为高阻态；或者 在第一个所述初始验证电平为低电平的验证时段设置为高阻态，在第二个所述初始验证电平为低电平的验证时段输出低电平信号；或者 在第一个所述初始验证电平为低电平的验证时段设置为高阻态，在第二个所述初始验证电平为低电平的验证时段也设置为高阻态。
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