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龙图腾网获悉滨州魏桥国科高等技术研究院;中国科学院自动化研究所申请的专利检测工业缺陷的图像分割方法、装置、设备和存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117197153B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310261650.0，技术领域涉及：G06T7/10；该发明授权检测工业缺陷的图像分割方法、装置、设备和存储介质是由屈震;陶显;沈飞;张正涛;钟成设计研发完成，并于2023-03-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本检测工业缺陷的图像分割方法、装置、设备和存储介质在说明书摘要公布了：本申请提供了检测工业缺陷的图像分割方法、装置、设备和存储介质，该方法包括，通过卷积神经网络对待检测图像进行特征提取，得到第一特征图；通过编码器的下采样模块对第一特征图进行多次下采样，得到第二特征图和第一特征图对应的基础特征；通过解码器的上采样模块对第二特征图进行上采样，得到第二特征图对应的深层特征；融合基础特征和深层特征，得到图像分割结果。通过该方法可以达到提高检测工业缺陷时，得到的分割图像的稳定性和准确性的效果。

本发明授权检测工业缺陷的图像分割方法、装置、设备和存储介质在权利要求书中公布了：1.一种检测工业缺陷的图像分割方法，其特征在于，包括： 通过卷积神经网络对待检测图像进行特征提取，得到第一特征图； 通过编码器的下采样模块对所述第一特征图进行多次下采样，得到第二特征图和所述第一特征图对应的基础特征； 通过解码器的上采样模块对所述第二特征图进行上采样，得到所述第二特征图对应的深层特征； 融合所述基础特征和所述深层特征，得到图像分割结果； 通过编码器的下采样模块对所述第一特征图进行多次下采样，得到第二特征图和所述第一特征图对应的基础特征，包括： 通过所述编码器的所述下采样模块对所述第一特征图进行预设数量的特征采样，得到多个特征切片，其中，所述多个特征切片的大小相同； 通过预设卷积层对所述多个特征切片进行特征提取，得到多个特征分量，其中，所述多个特征分量和所述多个特征切片的空间分辨率相同； 通过所述编码器的所述下采样模块提取所述多个特征切片的特征，得到所述基础特征和所述第二特征图； 所述通过所述编码器的所述下采样模块提取所述多个特征切片的特征，得到所述基础特征和所述第二特征图，包括： 对所述多个特征分量按照预设比例系数进行空间维度上的裁剪操作，得到多个裁剪后的特征分量； 求取所述多个裁剪后的特征分量的均值，得到所述多个裁剪后的特征分量中每一特征分量的权重； 根据所述多个裁剪后的特征分量中每一特征分量的权重，确定所述第二特征图和所述基础特征； 所述根据所述多个裁剪后的特征分量中每一特征分量的权重，确定所述第二特征图和所述基础特征，包括： 选取所述多个裁剪后的特征分量中每一特征分量的权重最大对应的特征切片作为所述第二特征图或者将所述多个特征切片根据对应的所述多个裁剪后的特征分量中每一特征分量的权重进行加权融合，得到所述第二特征图； 通过所述编码器的所述下采样模块提取所述第二特征图的特征，得到所述基础特征。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人滨州魏桥国科高等技术研究院;中国科学院自动化研究所，其通讯地址为：256600 山东省滨州市滨城区黄河八路西首中海酒店9号楼；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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