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龙图腾网获悉核工业北京地质研究院申请的专利一种伽马-伽马密度测井的密度校正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116794749B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310906987.2，技术领域涉及：G01V13/00；该发明授权一种伽马-伽马密度测井的密度校正方法是由焦仓文;乔宝强;赵丹设计研发完成，并于2023-07-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种伽马-伽马密度测井的密度校正方法在说明书摘要公布了：本申请涉及伽马‑伽马密度测井技术领域，具体提供了一种伽马‑伽马密度测井的密度校正方法，包括：利用模型井获取长源探测器GGFR与天然伽马探测器NGR的计数率比值RGGFRNGR以及短源探测器GGNR与天然伽马探测器NGR的计数率比值RGGNRNGR；获取密度测井仪的密度刻度系数；采用所述密度测井仪进行测井，并获取天然伽马探测器NGR、长源探测器GGFR和短源探测器GGNR的计数率NNGR、NGGFR和NGGNR；根据获取的计数率NNGR、NGGFR、NGGNR和计数率比值RGGFRNGR、RGGNRNGR，计算获取长源探测器GGFR和短源探测器GGNR的净计数率，完成密度参数解算用计数率的校正；根据密度刻度系数和净计数率计算地层密度。本申请能够有效的对密度进行校正，满足密度测井对精度的要求。

本发明授权一种伽马-伽马密度测井的密度校正方法在权利要求书中公布了：1.一种伽马-伽马密度测井的密度校正方法，应用于密度测井仪，所述密度测井仪包括天然伽马探测器NGR、长源探测器GGFR和短源探测器GGNR； 其特征在于，所述密度校正方法包括： 利用模型井获取长源探测器GGFR与天然伽马探测器NGR的计数率比值RGGFRNGR以及短源探测器GGNR与天然伽马探测器NGR的计数率比值RGGNRNGR；所述模型井是通过测试获得的具有已知密度和标称含量的岩石样本，以计数率比值获取长源探测器GGFR以及短源探测器GGNR相对天然伽马探测器NGR对模型井的天然伽马射线的响应差异； 获取密度测井仪的密度刻度系数；所述密度刻度系数是根据标准密度样本进行确定的密度测井仪的校准数据； 采用所述密度测井仪进行测井，并获取天然伽马探测器NGR、长源探测器GGFR和短源探测器GGNR的计数率NNGR、NGGFR和NGGNR； 取天然伽马探测器NGR的计数率NNGR分别乘以计数率比值RGGFRNGR和RGGNRNGR，获取所测井下放射性地层的天然伽马射线对长源探测器GGFR以及短源探测器GGNR计数率NGGFR、NGGNR的干扰值，然后以长源探测器GGFR的计数率NGGFR和短源探测器GGNR的计数率NGGNR分别减去自身所对应的干扰值，计算获取长源探测器GGFR和短源探测器GGNR的净计数率NGGFR净和NGGNR净，完成密度参数解算用计数率的校正； 根据密度刻度系数和净计数率计算地层密度。

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