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龙图腾网获悉中国电波传播研究所(中国电子科技集团公司第二十二研究所)申请的专利一种建筑物墙体的电参数测量方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116698880B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310537197.1，技术领域涉及：G01N22/00；该发明授权一种建筑物墙体的电参数测量方法及装置是由冯阳;郭琛;朱仁江;郭立新;刘忠玉;赵军;左伟庆;程尧设计研发完成，并于2023-05-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种建筑物墙体的电参数测量方法及装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种建筑物墙体的电参数测量方法，包括如下步骤：步骤1，获取反射系数：步骤2，基于PSO算法的电参数反演。本发明所公开的测量方法，测量精度高，相对误差小。本发明所公开的测量装置与本发明的测量方法相配合，测量效率较高。

本发明授权一种建筑物墙体的电参数测量方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种建筑物墙体的电参数测量方法，其特征在于，包括如下步骤： 步骤1，获取反射系数： 在墙面放置金属板，测量金属板的反射回波，将金属板的反射回波信号强度当做计算时的入射波强度； 去除墙面的金属板，记录反射信号，就是建筑物的反射回波信号强度； 为测试墙面铺设吸波材料，或找一块能屏蔽测试建筑物反射回波且不影响其他背景环境反射效应的替代场地，测量对应的反射回波信号强度作为实际的背景回波信号强度； 将得到的时域信号通过时窗进行分离后转换到频域，通过以下计算，得到待测建筑物的反射系数； 基于金属板的全反射特性，将金属板的反射回波当做实际的入射波；将去掉金属板的测量回波当做实际的反射回波；将去掉建筑物反射效应的背景回波当做实际的背景噪声；然后通过以下公式转换求得建筑的反射系数Rn： 上式中，fn是实测的频率，Rn是频率为fn时的反射系数；Frn是频率为fn时接收的脉冲的频谱密度；Ftn是频率为fn时发射天线的脉冲频谱密度；Bn是频率为fn时背景反射脉冲信号的频谱密度；R是收发天线到实测物体的距离；Gr是接收天线的增益；Gt是发射天线的增益；C为光速； 步骤2，基于PSO算法的电参数反演： 分别在电导率和介电常数的给定范围内进行搜索，PSO算法对于介电常数的搜索方程为： PSO算法对于电导率的搜索方程为： 上式中，k是指第k代，k+1是待求代数，用于完成算法迭代求解，vi是当前的粒子速度，w是粒子的惯性因子，c1、c2为学习因子，pbesti为个体极值，gbesti为群体极值，xi表示粒子的当前位置，σ为电导率，εr为介电常数，ran是用rand函数给微粒初始化速度附加随机因素，取值范围为0-1； 使用实测建筑物的反射系数模值与理论计算的反射系数模值的均方差值fer作为目标函数，并以此来筛选每一代粒子的最优位置，目标函数表示为： 上式中，Rmθi,f为不同的入射角和频率对应的测量反射系数的模值，Rcθi,f为不同的入射角和频率对应的理论反射系数的模值，θi表示变化的入射角，f表示变化的频率，N表示总共的测试次数； 首先采用随机函数rand随机产生每个粒子形成粒子群集合，遍历该粒子群集合后带入到公式5目标函数中得出该集合的最优解，判断是否满足约束条件，如果是则为要找的解，如果不是，继续通过公式3、公式4更新下一轮每个粒子的速度和位置，再次根据公式5计算目标函数，更新每个粒子的历史最优位置，得到整个粒子群在一系列更新迭代过程中的最优解，继续判断是否满足最终参数的条件，如果不满足则继续更新参数。

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