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龙图腾网获悉深圳市信濠光电科技股份有限公司申请的专利一种影像识别对位快速多片测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116007497B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211706381.6，技术领域涉及：G01B11/00；该发明授权一种影像识别对位快速多片测量方法是由温天雨;卢民荣;张伟忠;段建红设计研发完成，并于2022-12-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种影像识别对位快速多片测量方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种影像识别对位快速多片测量方法，涉及产品测量技术领域；该方法包括以下的步骤：S10、在显示区域显示产品的外形或形状的图像；S20、在显示区域采集一个待测产品的图像；S30、根据图像，模拟图像的中心点，并以此中心点建立XY轴坐标系；S40、在XY轴坐标系的基础上，对产品所需检测的尺寸进行测量；S50、图像中产品的全部尺寸测量完成后，将标准公差与实际测量值进行比对，并作出判定，并将判定结果以OK或NG的样式显示在XY轴坐标系上；S60、将判定结果为OK的图像设定为标准图像，以此标准图像在测量显示区域自动搜索，找到与标准图像相似的产品图像；本发明的有益效果是：能够一次实现多个产品的测量，无需使用靠角夹具，测量更为方便。

本发明授权一种影像识别对位快速多片测量方法在权利要求书中公布了：1.一种影像识别对位快速多片测量方法，其特征在于，该方法包括以下的步骤： S10、待测产品的双面覆盖保护膜后，将其放置到测量显示区域，灯光可穿透保护膜，在显示区域显示产品的外形或形状的图像； S20、在显示区域采集一个待测产品的图像，并将此图像设置为待测产品的标准的图像； S30、根据图像，模拟图像的中心点，并以此中心点建立XY轴坐标系，并将此XY轴坐标系设定为所有图像测量的坐标原点； 所述步骤S30中，XY轴坐标系的X轴和Y轴，是根据产品的结构，设定好固定方向； 所述步骤S30中，根据产品的不同，在XY轴坐标系上设置若干个标准辅助线，以便于后续测量尺寸所用；所述辅助线根据产品的测量难度进行设定，辅助线包括贯穿产品的中心线、边缘线或轮廓线； S40、在XY轴坐标系的基础上，对产品所需检测的尺寸进行测量； S50、图像中产品的全部尺寸测量完成后，将标准公差与实际测量值进行比对，并作出判定，并将判定结果以OK或NG的样式显示在XY轴坐标系上； S60、将判定结果为OK的图像设定为标准图像，以此标准图像在测量显示区域自动搜索，找到与标准图像相似的产品图像，并对相似的产品图像执行步骤S30至步骤S50，直至测量显示区域内的产品全部测量完成。

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