英业达科技有限公司;英业达股份有限公司;英业达集团(天津)电子技术有限公司张天超获国家专利权
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龙图腾网获悉英业达科技有限公司;英业达股份有限公司;英业达集团(天津)电子技术有限公司申请的专利测试非易失性存储器储存装置背板的系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115840125B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111097083.7，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权测试非易失性存储器储存装置背板的系统及方法是由张天超设计研发完成，并于2021-09-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本测试非易失性存储器储存装置背板的系统及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种测试非易失性存储器储存装置背板的系统及方法，其通过测试控制装置产生第一信号并通过被测电路板非易失性存储器储存装置背板将第一信号传送到模拟装置，模拟装置中的信号处理元件接收第一信号并产生与第一信号相同的第二信号，及信号处理元件通过被测电路板传送第二信号至测试控制装置，使测试控制装置判断第二信号的比特错误率的技术手段，可以使用现有回送测试的架构对电路板进行高频信号的测试，并达成提高测试覆盖率的技术功效。
本发明授权测试非易失性存储器储存装置背板的系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种测试非易失性存储器储存装置背板的方法，该方法至少包含下列步骤： 连接测试控制装置与被测电路板及连接该被测电路板与模拟装置，该模拟装置包含信号处理元件，其中，该被测电路板为非易失性存储器储存装置背板； 该测试控制装置产生第一信号并传送到该被测电路板，使该第一信号通过该被测电路板而被传送至该模拟装置； 该信号处理元件接收该第一信号并产生与该第一信号相同的第二信号； 该信号处理元件传送该第二信号至该被测电路板，使该第二信号通过该被测电路板而被传送至该测试控制装置；以及 该测试控制装置接收该第二信号并判断该第二信号的比特错误率以产生该被测电路板的测试结果。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人英业达科技有限公司;英业达股份有限公司;英业达集团(天津)电子技术有限公司，其通讯地址为：201114 上海市闵行区漕河泾出口加工区浦星路789号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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