长江存储科技有限责任公司艾鹏获国家专利权
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龙图腾网获悉长江存储科技有限责任公司申请的专利半导体芯片的测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114420196B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210050634.2，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权半导体芯片的测试方法是由艾鹏;李康设计研发完成，并于2022-01-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本半导体芯片的测试方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种半导体芯片的测试方法，所述半导体芯片中包括至少一个逻辑单元，每个所述逻辑单元中包括多个逻辑块，每个所述逻辑块包括多个逻辑页，每个所述逻辑页包括多个逻辑列，其特征在于，包括：启动测试程序，所述测试程序包括预设的地址规则，在所述地址规则中，用第一坐标表示所述多个逻辑页的地址，用第二坐标表示所述多个逻辑块的地址，用寄存器表示所述多个逻辑列的地址；读取测试文件，所述测试文件中包括待测试对象的地址；以及所述测试程序根据所述地址规则对所述待测对象进行定位和测试。本发明的测试方法降低了不同产品、同类型测试的开发成本和开发周期。
本发明授权半导体芯片的测试方法在权利要求书中公布了：1.一种半导体芯片的测试方法，所述半导体芯片中包括至少一个逻辑单元，每个所述逻辑单元中包括多个逻辑块，每个所述逻辑块包括多个逻辑页，每个所述逻辑页包括多个逻辑列，其特征在于，包括： 启动测试程序，所述测试程序包括预设的地址规则，在所述地址规则中，用第一坐标表示所述多个逻辑页的地址，用第二坐标表示所述多个逻辑块的地址，用寄存器表示所述多个逻辑列的地址； 读取测试文件，所述测试文件中包括待测试对象的地址；以及 所述测试程序根据所述地址规则对所述待测对象进行定位和测试。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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