深圳市伟智半导体有限公司殷濛濛获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市伟智半导体有限公司申请的专利快速响应的3D/AOI检测装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223650453U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-09发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422971596.1，技术领域涉及：G01N21/88；该实用新型快速响应的3D/AOI检测装置是由殷濛濛设计研发完成，并于2024-12-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本快速响应的3D/AOI检测装置在说明书摘要公布了：本实用新型公开了快速响应的3DAOI检测装置，涉及产品检测技术领域。本实用新型包括机体，以及设置于机体内部的检测组件；机体包括底板、设置于底板上部的底座、固定于底座上部中间位置的机罩、活动安装于机罩正面的罩门、平行设置于底座上侧的电磁导轨、与电磁导轨相配合的电磁导块、固定于电磁导块上侧的移动平台，以及固定于罩门正面的触控屏和电气箱；检测组件包括固定于机罩内部的横梁、固定于横梁下方的竖板、经气杆与竖板升降配合的扫描检测器。本实用新型通过集成精密的机械结构与先进的电子控制系统，该装置能够快速响应并准确检测工件或电路板上的缺陷，采用高精度的电磁导轨系统和可调节的扫描检测器，确保了检测过程中的精确度。
本实用新型快速响应的3D/AOI检测装置在权利要求书中公布了：1.快速响应的3DAOI检测装置，包括机体100，以及设置于机体100内部的检测组件200，其特征在于： 所述机体100包括底板101、设置于底板101上部的底座102、固定于底座102上部中间位置的机罩105、活动安装于机罩105正面的罩门106、平行设置于底座102上侧的电磁导轨104、与电磁导轨104相配合的电磁导块111、固定于电磁导块111上侧的移动平台112，以及固定于罩门106正面的触控屏109和电气箱107； 所述检测组件200包括固定于机罩105内部的横梁203、固定于横梁203下方的竖板204、经气杆205与竖板204升降配合的扫描检测器206。
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