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龙图腾网获悉北京鑫跃微半导体技术有限公司;芜湖鑫跃微半导体有限公司申请的专利一种测量装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223649867U 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-09发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202423079290.1，技术领域涉及：G01B5/252；该实用新型一种测量装置是由张亮;禹在昌;薛欢设计研发完成，并于2024-12-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种测量装置在说明书摘要公布了：本申请公开了一种测量装置，用于测量卷盘的同心度以及形变程度，卷盘包括轮轴以及连接于轮轴两端的两个轮盘，测量装置包括测量平台、定位组件以及测量组件，定位组件包括定位轴，定位轴绕其轴向可转动地安装于测量平台，定位轴包括安装段，安装段用于安装卷盘的轮轴，测量组件安装于测量平台，测量组件包括第一测量单元和第二测量单元，第一测量单元具有第一测量端，第二测量单元具有第二测量端，定位轴带动卷盘绕定位轴的轴向旋转，第一测量端和第二测量端用于与卷盘接触，第一测量端测量卷盘的同心度，第二测量端测量卷盘的形变程度。在本申请的技术方案中，测量装置能够快速检测卷盘的同心度以及形变程度，测量方法简单。

本实用新型一种测量装置在权利要求书中公布了：1.一种测量装置100，用于测量卷盘1'的同心度以及形变程度，所述卷盘1'包括轮轴11'以及连接于所述轮轴11'两端的两个轮盘12'，其特征在于，包括： 测量平台1； 定位组件2，包括定位轴21，所述定位轴21绕其轴向可转动地安装于所述测量平台1，所述定位轴21包括安装段211，所述安装段211用于安装所述卷盘1'的轮轴11'；及，测量组件3，安装于所述测量平台1，所述测量组件3包括第一测量单元31和第二测量单元32，所述第一测量单元31具有第一测量端311，所述第一测量端311在垂直于所述定位轴的轴向X的第一方向Y与所述安装段211间隔设置，所述第二测量单元32具有第二测量端321，所述第二测量端321在所述定位轴的轴向X与所述安装段211间隔设置； 其中，在所述定位轴21带动所述卷盘1'绕所述定位轴的轴向X旋转的过程中，所述第一测量端311和所述第二测量端321分别用于与所述卷盘1'的所述轮轴11'以及所述轮盘12'相接触，以根据所述安装段211与所述第一测量端311在所述第一方向Y的间距获取轮盘12'的边缘与所述轮轴11'的同心度，以及，根据所述安装段211与所述第二测量端321在所述定位轴的轴向X的间距获取所述轮盘12'的形变程度。

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