长春理工大学庞春颖获国家专利权
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龙图腾网获悉长春理工大学申请的专利一种基于亚像素边缘偏移检测的显微图像整像素对齐方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120876218B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511382946.3，技术领域涉及：G06T3/4038；该发明授权一种基于亚像素边缘偏移检测的显微图像整像素对齐方法是由庞春颖;张健宇;李燕;马圣哲;敖邦琪;周苇锟设计研发完成，并于2025-09-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于亚像素边缘偏移检测的显微图像整像素对齐方法在说明书摘要公布了：一种基于亚像素边缘偏移检测的显微图像整像素对齐方法，涉及显微图像处理领域。解决了现有的亚像素配准技术依赖迭代优化或复杂形变模型，难以实时处理；传感器采样误差与机械平移误差需通过高分辨率相机或精密位移台补偿，系统成本高昂等问题。本发明通过亚像素级偏移补偿，无需依赖高精度位移台即可实现亚像素对齐，显著降低硬件成本。本发明所述方法利用边缘检测算法提取图像边缘特征点，拟合灰度质心计算亚像素偏移量，统计平均偏移量；根据平均偏移量生成仿射变换矩阵，并对图像进行重采样，将像素值对齐至整数坐标网格；最后根据插值算法类型裁剪图像边缘，消除虚影。本发明还适用于荧光显微镜多视野拼接、超分辨重建等应用领域。
本发明授权一种基于亚像素边缘偏移检测的显微图像整像素对齐方法在权利要求书中公布了：1.一种基于亚像素边缘偏移检测的显微图像整像素对齐方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤： 步骤1、获取原始显微图像，并对所述原始显微图像进行预处理； 步骤2、基于步骤1预处理后的原始显微图像进行边缘特征点提取，并通过拟合灰度质心计算特征点亚像素偏移量，计算统计平均偏移量； 步骤3、根据步骤2中所统计的平均偏移量生成仿射变换矩阵，并对原始显微图像进行重采样，将像素值对齐至整数坐标网格； 步骤4、剪裁步骤3中重采样后的图像边缘，消除插值引入的虚影，用于消除原始显微图像的亚像素边缘偏移，完成基于亚像素边缘偏移检测的显微图像整像素对齐。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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