深圳飞渡微电子有限公司杨德旺获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳飞渡微电子有限公司申请的专利OTP的双读校验方法与装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120704612B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-09发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511142893.8,技术领域涉及:G06F3/06;该发明授权OTP的双读校验方法与装置是由杨德旺;刘永平;阮沈勇设计研发完成,并于2025-08-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本OTP的双读校验方法与装置在说明书摘要公布了:本发明涉及OTP的双读校验方法与装置,方法包括基于电源电压生成上电复位信号,进行信号响应,得到周期性读取信号与校验控制信号;依据所述周期性读取信号的第一周期和所述校验控制信号对OTP读写系统进行OTP一次读取,并存入静态随机存取存储器,得到基准数据;根据所述周期性读取信号的第二周期,结合所述校验控制信号进行OTP二次读取,并与所述基准数据进行比对,得到校验结果;对所述校验结果进行闭环检测,得到OTP检验结果。本发明能够有效规避了电源瞬态波动引发的数据误读风险。
本发明授权OTP的双读校验方法与装置在权利要求书中公布了:1.一种OTP的双读校验方法,其特征在于,包括: 基于电源电压生成上电复位信号,进行信号响应,得到周期性读取信号与校验控制信号; 依据所述周期性读取信号的第一周期和所述校验控制信号对OTP读写系统进行OTP一次读取,并存入静态随机存取存储器,得到基准数据; 根据所述周期性读取信号的第二周期,结合所述校验控制信号进行OTP二次读取,并与所述基准数据进行比对,得到校验结果; 对所述校验结果进行闭环检测,得到OTP检验结果; 当校验结果异常时,闭环检测机制自动触发地址指针复位与存储器状态刷新,通过信号生成状态的重置实现自含式错误恢复,在硬件层面完成毫秒级纠错响应。
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