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平方和(北京)科技有限公司蔡仲伦获国家专利权

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龙图腾网获悉平方和(北京)科技有限公司申请的专利一种基于凸缺陷的隐形眼镜印刷区污渍高精度检测方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120374539B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-09发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510446299.1,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权一种基于凸缺陷的隐形眼镜印刷区污渍高精度检测方法及系统是由蔡仲伦;杨彬泉;刘学谨;苏瑞设计研发完成,并于2025-04-10向国家知识产权局提交的专利申请。

一种基于凸缺陷的隐形眼镜印刷区污渍高精度检测方法及系统在说明书摘要公布了:本发明涉及计算机图像领域,具体是一种基于凸缺陷的隐形眼镜印刷区污渍高精度检测方法及系统,通过获取隐形眼镜图像,并对隐形眼镜图像进行预处理,得到预处理图像;对预处理图像进行基于形态学的边缘进行定位,得到印刷区外圈轮廓;计算印刷区外圈轮廓的凸包,基于印刷区外圈轮廓和凸包确定隐形眼镜图像的印刷区域的多个凸缺陷;并基于多个凸缺陷确定印刷区外圈轮廓的形态;基于多个凸缺陷构建表征印刷区外圈轮廓的圆形,并基于预先构建的掩模和圆形提取隐形眼镜图像的印刷区域的污渍。本发明对该图像进行自动识别,可快速、高效地完成对隐形眼镜的全面检测,从而达到降本增效、提高生产效率、提升生产良品率的目的。

本发明授权一种基于凸缺陷的隐形眼镜印刷区污渍高精度检测方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种基于凸缺陷的隐形眼镜印刷区污渍高精度检测方法,其特征在于,包括步骤: 获取隐形眼镜图像,并对所述隐形眼镜图像进行预处理,得到预处理图像; 对所述预处理图像进行基于形态学的边缘进行定位,得到印刷区外圈轮廓; 计算所述印刷区外圈轮廓的凸包,基于所述印刷区外圈轮廓和所述凸包确定隐形眼镜图像的印刷区域的多个凸缺陷;并基于多个凸缺陷确定所述印刷区外圈轮廓的形态;基于多个凸缺陷确定所述印刷区外圈轮廓的形态,包括:提取每个凸缺陷的终点和最远点,得到凸缺陷点集,其中,所述最远点为每个凸缺陷中位于所述印刷区外圈轮廓且距离凸包最远的点;对所述凸缺陷点集的所有凸缺陷点进行椭圆拟合,得到拟合圆以及拟合圆的圆心;计算所述凸缺陷点集的所有凸缺陷点与所述拟合圆的圆心的距离,计算所有距离的总和,并在所述所有距离的总和小于预设的第一距离阈值时,判定所述印刷区外圈轮廓的形态为圆形,否则,判定所述印刷区外圈轮廓的形态不为圆形; 基于多个凸缺陷构建表征所述印刷区外圈轮廓的圆形,并基于预先构建的掩模和所述圆形提取所述隐形眼镜图像的印刷区域的污渍。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人平方和(北京)科技有限公司,其通讯地址为:100094 北京市海淀区北清路81号一区1号楼11层1101室;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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