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龙图腾网获悉清华大学申请的专利微波源相位噪声测量方法、装置、系统及信号处理电路获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119544053B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411593814.0，技术领域涉及：H04B10/079；该发明授权微波源相位噪声测量方法、装置、系统及信号处理电路是由陈明华;薛淇尹设计研发完成，并于2024-11-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本微波源相位噪声测量方法、装置、系统及信号处理电路在说明书摘要公布了：本发明提供一种微波源相位噪声测量方法、装置、系统及信号处理电路，涉及微波源相位噪声测量技术领域，该系统通过其信号处理电路中的第一光锁相环和第二光锁相环输出主光信号、第一从光信号和第二从光信号，主光信号与第一从光信号的频率之差、主光信号与第二从光信号的频率之差均为待测微波信号的频率与一个中频频率之和，将待测微波信号调制到主光信号上得到调制光信号，根据将调制光信号和第一从光信号合并后进行光电转换得到的第一微波信号、和将调制光信号和第二从光信号合并后进行光电转换得到的第二微波信号，获得待测微波信号的相位噪声。本发明能够降低高频信号测量过程的复杂度、提高测量灵敏度并缩短运算时间，且易于生产和普及。

本发明授权微波源相位噪声测量方法、装置、系统及信号处理电路在权利要求书中公布了：1.一种微波源相位噪声测量方法，其特征在于，包括： 接收来自信号处理电路的第一微波信号和第二微波信号；其中，所述信号处理电路包括外差锁相子电路和调制下变频子电路，所述外差锁相子电路包括主激光器，第一光电探测器、第一分频器、第一鉴频鉴相器、第一晶体振荡器、第一环路滤波器、第一从激光器、第二光电探测器、第二分频器、第二鉴频鉴相器、第二晶体振荡器、第二环路滤波器、第二从激光器、第一分路光耦合器、第一合路光耦合器和第二合路光耦合器，所述主激光器的第一输出端通过所述第一分路光耦合器被分为第一支路输出端和第二支路输出端，所述第一支路输出端和所述第一从激光器的第一输出端连接所述第一合路光耦合器的输入端，所述第一合路光耦合器的输出端依次通过所述第一光电探测器、所述第一分频器、所述第一鉴频鉴相器和所述第一环路滤波器，与所述第一从激光器的输入端连接，以构成第一光锁相环，其中所述第一鉴频鉴相器的输入端与所述第一晶体振荡器的输出端连接；所述第二支路输出端和所述第二从激光器的第一输出端连接所述第二合路光耦合器的输入端，所述第二合路光耦合器的输出端依次通过所述第二光电探测器、所述第二分频器、所述第二鉴频鉴相器和所述第二环路滤波器，与所述第二从激光器的输入端连接，以构成第二光锁相环，其中所述第二鉴频鉴相器的输入端与所述第二晶体振荡器的输出端连接；基于所述第一光锁相环，所述第一从激光器的第二输出端输出的第一从光信号与所述主激光器的第二输出端输出的主光信号的频率之差为设定频率；基于所述第二光锁相环，所述主激光器的第二输出端输出的主光信号与所述第二从激光器的第二输出端输出的第二从光信号的频率之差为所述设定频率；所述设定频率为待测微波信号的微波信号频率和设定的中频频率之和；所述调制下变频子电路包括相位调制器、第二分路光耦合器、第三合路光耦合器、第四合路光耦合器、第三光电探测器和第四光电探测器，所述相位调制器的输入端连接所述主激光器的第二输出端，所述相位调制器的输出端通过所述第二分路光耦合器被分为第三支路输出端和第四支路输出端，所述第三支路输出端和所述第一从激光器的第二输出端连接所述第三合路光耦合器的输入端，所述第四支路输出端和所述第二从激光器的第二输出端连接所述第四合路光耦合器的输入端，第三合路光耦合器的输出端连接所述第三光电探测器，所述第四合路光耦合器的输出端连接所述第四光电探测器；所述相位调制器用于接收所述待测微波信号并将其调制在所述主激光器的第二输出端输出的主光信号上，所述第三光电探测器用于输出所述第一微波信号，所述第四光电探测器用于输出所述第二微波信号； 获取对所述第一微波信号进行采样的N个第一采样结果和对所述第二微波信号进行采样的N个第二采样结果；其中，N为正整数且N≥2； 对所述N个第一采样结果和所述N个第二采样结果进行傅里叶变换，对傅里叶变换结果进行互相关功率谱密度估计运算，根据运算结果输出所述待测微波信号的相位噪声。

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