北京英特森技术有限公司;南开大学赵普生获国家专利权
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龙图腾网获悉北京英特森技术有限公司;南开大学申请的专利基于扫描电镜能谱分析的单颗粒来源智能解析方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119290941B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-09发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411327261.4，技术领域涉及：G01N23/2251；该发明授权基于扫描电镜能谱分析的单颗粒来源智能解析方法及装置是由赵普生;赵鹏;李江;冯银厂;毕晓辉;贺艳云设计研发完成，并于2024-09-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于扫描电镜能谱分析的单颗粒来源智能解析方法及装置在说明书摘要公布了：基于扫描电镜能谱分析的单颗粒来源智能解析方法及装置，该方法通过应用计算机控制的扫描电镜对收集的设定污染源的样品进行分析，获得污染源样品中单颗粒的图像、元素数据和粒径参数，构建污染源单颗粒数据集；通过残差网络模型挖掘单颗粒图像的形貌特征，获得所述单颗粒属于设定污染源的初步概率值；将单颗粒的初步概率值与其粒径参数、元素数据进行合并，并输入极致梯度提升模型中，获得单颗粒属于所述设定污染源的概率值；通过单颗粒的质量或数量对单颗粒的概率值进行加权、分源类求和计算处理，获得设定污染源排放的大气颗粒物的质量或数量贡献占比。本发明可以充分挖掘颗粒物形貌、粒径和成分特征，识别颗粒物来源并定量不同污染源贡献。
本发明授权基于扫描电镜能谱分析的单颗粒来源智能解析方法及装置在权利要求书中公布了：1.基于扫描电镜能谱分析的单颗粒来源智能解析方法，其特征在于，包括： 通过应用计算机控制的扫描电镜对收集的设定污染源的样品进行分析，获得所述设定污染源的样品中单颗粒的图像、元素数据和粒径参数，构建污染源样品的单颗粒数据集； 通过残差网络模型提取所述单颗粒的图像特征，并根据所述单颗粒的图像特征初步预测所述单颗粒的来源，获得所述单颗粒属于设定污染源的初步概率值； 将所述单颗粒属于所述设定污染源的初步概率值与所述单颗粒的粒径参数、元素数据进行合并，并输入极致梯度提升模型中，通过所述极致梯度提升模型预测，获得所述单颗粒属于所述设定污染源的概率值； 通过所述单颗粒的质量或数量对获得的所述单颗粒属于所述设定污染源的概率值进行加权、分源类求和计算处理，获得所述设定污染源排放的大气颗粒物的质量占比或数量占比。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人北京英特森技术有限公司;南开大学，其通讯地址为：102299 北京市昌平区景兴街18号院3号楼2层203室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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