武汉凌久微电子有限公司王琨获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉凌久微电子有限公司申请的专利一种用于显卡测试的散热器结构获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223598197U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202423131949.3，技术领域涉及：G06F1/20；该实用新型一种用于显卡测试的散热器结构是由王琨;田柯冉;颜子涵设计研发完成，并于2024-12-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于显卡测试的散热器结构在说明书摘要公布了：本实用新型涉及显卡测试技术领域，具体为一种用于显卡测试的散热器结构，包括散热板和位于散热板上安装的风扇，以及安装有与风扇相对的散热片，散热片通过锁紧部与散热板固定，所述散热板上开设有若干个调节孔，调节孔的一端朝向散热片的中心处，所述散热板通过定位部穿过调节孔与外部显卡固定，所述定位部包括位于调节孔中穿设并与外部显卡螺纹连接的螺栓。该用于显卡测试的散热器结构，通过散热板上增加了调节孔和定位部，与不同定位孔结构的测试显卡进行连接时，可以通过调节孔和定位部调节散热器的位置，匹配显卡上定位孔的位置，使得在测试显卡过程中操作更加方便快捷，减少了测试成本，实现了该散热器结构对各种类显卡测试的通用性。
本实用新型一种用于显卡测试的散热器结构在权利要求书中公布了：1.一种用于显卡测试的散热器结构，其特征在于：包括散热板1和位于散热板1上安装的风扇2，以及安装有与风扇2相对的散热片6，散热片6通过锁紧部与散热板1固定，所述散热板1上开设有若干个调节孔3，调节孔3的一端朝向散热片6的中心处，所述散热板1通过定位部穿过调节孔3与外部显卡固定。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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