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龙图腾网获悉电子科技大学申请的专利基于启发式贪心算法的模拟电路测试激励生成方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119716505B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411900621.5，技术领域涉及：G01R31/316；该发明授权基于启发式贪心算法的模拟电路测试激励生成方法是由杨成林;黄欣红;温涵宇;陈涵设计研发完成，并于2024-12-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于启发式贪心算法的模拟电路测试激励生成方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于启发式贪心算法的模拟电路测试激励生成方法，对待测模拟电路进行缺陷建模得到缺陷仿真模拟电路，然后根据待测模拟电路的激励源设置搜索空间，将搜索空间等分得到若干个子搜索空间，取各子搜索空间的几何中心所在搜索点为初始点，根据每个初始点的可检测缺陷数量确定搜索起点，然后基于启发式贪心算法从搜索起点开始搜索测试激励，从而得到模拟电路所需的测试激励集。采用本发明可以有效提高模拟电路测试激励的生成效率。

本发明授权基于启发式贪心算法的模拟电路测试激励生成方法在权利要求书中公布了：1.一种基于启发式贪心算法的模拟电路测试激励生成方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：对于待测模拟电路，识别出电路网表中所有元件，为除电源以外的所有元件分别建立缺陷模型，并生成缺陷列表，对各个缺陷模型进行等效压缩，并逐一注入至待测模拟电路，得到缺陷仿真模拟电路； S2：根据待测模拟电路的激励源数量N，建立N维搜索空间，并根据测试激励可达到的精度对搜索空间进行离散化，得到每个搜索网格点的坐标； S3：将搜索空间等分为D＝2N份，从而得到D个子搜索空间，取各子搜索空间的几何中心所在搜索网格点为初始点startd，d＝1,2,…,D，在模拟电路中对每个初始点startd进行缺陷仿真并记录每个初始点startd的可检测缺陷集合选择可检测缺陷数量最多的初始点作为搜索起点base； S4：基于启发式贪心算法搜索测试激励集，具体方法为： S4.1：初始化累计可检测缺陷集合初始化测试激励集E＝{start1,start2,…,startD}； S4.2：初始化搜索步长L＝L0，L0表示预设的搜索步长初始值； S4.3：在搜索空间中采样得到与搜索基点base距离为L的K个搜索网格点作为邻域搜索点pk，k＝1,2,…,K，K表示预设的采样点数； S4.4：在模拟电路中对每个邻域搜索点pk进行缺陷仿真，得到对应的可检测缺陷集合fk，将邻域搜索点pk加入测试激励集E，令累计可检测缺陷集合F′＝F∪f1∪f2∪…∪fK； S4.5：判断是否达到搜索结束条件，如果是，进入步骤S4.9，否则进入步骤S4.6； S4.6：判断是否|F′|＞|F|，||表示求取集合中可检测缺陷数量，如果是，进入步骤S4.7，否则进入步骤S4.8； S4.7：令累计可检测缺陷集合F＝F′，然后从K个邻域搜索点pk中筛选可检测缺陷数量最多的邻域搜索点pk*，更新搜索基点base＝pk*，返回步骤S4.3； S4.8：令搜索步长L＝λ×L，λ表示预设的搜索步长缩放倍数，λ∈0,1，返回步骤S4.3； S4.9：将当前测试激励集E作为最终模拟电路测试的测试激励集。

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