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龙图腾网获悉同济大学申请的专利一种用于集成电路设计中的宏单元布局方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119514467B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411488008.7，技术领域涉及：G06F30/392；该发明授权一种用于集成电路设计中的宏单元布局方法是由翁思远;邱雷设计研发完成，并于2024-10-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于集成电路设计中的宏单元布局方法在说明书摘要公布了：本申请公开了一种用于集成电路设计中的宏单元布局方法，包括：获取待布局的电路网表信息和宏单元结构特征；基于DBSCAN聚类算法，根据电路网表信息对所有宏单元进行聚类，得到多个簇；基于遗传算法对多个簇进行更新；在多个簇中根据宏单元结构特征创建多个宏单元阵列；在各个簇中分别对宏单元阵列进行布局；对各个簇分别进行布局，得到初步布局结果；在模拟退火算法的目标函数中使用面积评估模型和线长评估模型对初步布局结果进行更新，得到更新后的布局结果；使用贪心算法对更新后的布局结果再次进行更新，以解决拥塞问题；在全局上对宏单元的重叠部分进行更新，得到最终的布局结果。

本发明授权一种用于集成电路设计中的宏单元布局方法在权利要求书中公布了：1.一种用于集成电路设计中的宏单元布局方法，其特征在于，包括： S1、获取待布局的电路网表信息和宏单元结构特征； S2、基于DBSCAN聚类算法，根据电路网表信息对所有宏单元进行聚类，得到多个簇； S3、基于遗传算法对多个簇进行更新； S4、在多个簇中根据宏单元结构特征创建多个宏单元阵列； S5、在各个簇中分别对宏单元阵列进行布局； S6、对各个簇分别进行布局，得到初步布局结果； S7、在模拟退火算法的目标函数中使用面积评估模型和线长评估模型对初步布局结果进行更新，得到更新后的布局结果； S8、使用贪心算法对更新后的布局结果再次进行更新，以解决拥塞问题； S9、在全局上对宏单元的重叠部分进行更新，得到最终的布局结果，具体包括：在模拟退火算法的目标函数中引入一个惩罚项，首先记录出现的重叠区域，重叠的宏单元以及它们所在簇，然后定义惩罚项如下： Areaoverlap是新布局结果与被记录重叠区域间的公共面积，Areamacro是被记录重叠宏单元的面积，基于更新后的目标函数重新进行宏单元布局，如果再次出现重叠问题，则需要重复此过程，直至达到没有重叠的宏单元布局结果。

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