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龙图腾网获悉南方电网数字电网研究院股份有限公司申请的专利一种多环境状态下的芯片性能测试方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119355485B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411465270.X，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种多环境状态下的芯片性能测试方法及装置是由陈军健;向柏澄;陶伟;蔡田田;李卓环;李俊业;邵杰设计研发完成，并于2024-10-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种多环境状态下的芯片性能测试方法及装置在说明书摘要公布了：本发明涉及集成电路芯片技术领域，公开了一种多环境状态下的芯片性能测试方法及装置。该方法获取多个环境状态对应的环境信息，并在各环境信息中识别第一芯片的多个关键影响因素；结合各关键影响因素分析第一芯片的多个历史运行信息，得到各环境状态对应的多个芯片影响参数；基于第一芯片的结构参数信息和多个芯片影响参数，构建各环境状态对应的仿真测试模型；利用各环境状态对应的仿真测试模型分别对第一芯片进行性能测试，得出第一芯片在各环境状态下的测试结果；分别对第一芯片在各环境状态下的测试结果进行分析调整，得出第一芯片在各环境状态下的芯片运行性能。本发明提高了多环境条件下芯片性能测试的精准度和效率，降低了测试成本。

本发明授权一种多环境状态下的芯片性能测试方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种多环境状态下的芯片性能测试方法，其特征在于，包括： 获取若干个环境状态对应的环境信息，并在各所述环境信息中识别第一芯片的若干个关键影响因素，具体为： 识别各所述环境信息的环境特征信息； 在预设数据库中获取所述第一芯片的若干个运行性能影响因素； 分别识别各所述运行性能影响因素的关键因素特征； 在各所述环境特征信息中分别筛选与所述关键因素特征相似度最高的若干个环境特征信息； 将各所述环境特征信息对应的环境信息确定为第一芯片的关键影响因素； 获取第一芯片的若干个历史运行信息，并结合各所述关键影响因素分析各所述历史运行信息，得到各所述环境状态对应的若干个芯片影响参数，具体为： 获取第一芯片的若干个历史运行信息； 结合各所述历史运行信息中的运行性能信息，分析各所述关键影响因素的影响方式； 通过分析各所述历史运行信息中各所述环境状态的数据，获取各所述关键影响因素的影响因素值范围； 基于各所述关键影响因素的影响方式和影响因素值范围，生成各所述环境状态对应的芯片影响参数； 基于第一芯片的结构参数信息和若干个所述芯片影响参数，构建各所述环境状态对应的仿真测试模型，具体为： 在预设数据库中获取第一芯片的样本结构模型和结构参数信息； 基于所述结构参数信息对所述样本结构模型中的芯片结构进行调整，形成第一芯片的仿真结构模型； 基于各所述环境状态对应的芯片影响参数，生成各所述环境状态对应的性能调整组； 将各所述性能调整组分别添加至所述仿真结构模型的输出层，得到各所述环境状态对应的仿真测试模型； 利用各所述环境状态对应的仿真测试模型，分别对所述第一芯片进行性能测试，得出第一芯片在各所述环境状态下的测试结果； 分别对所述第一芯片在各所述环境状态下的测试结果进行分析调整，得出第一芯片在各所述环境状态下的芯片运行性能。

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