武汉轻工大学李冰获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉轻工大学申请的专利电离层反演精度评估方法、装置、设备以及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119322320B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411235649.1，技术领域涉及：G01S7/41；该发明授权电离层反演精度评估方法、装置、设备以及存储介质是由李冰;安家春;康镇;周春霞;王泽民设计研发完成，并于2024-09-04向国家知识产权局提交的专利申请。
本电离层反演精度评估方法、装置、设备以及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种电离层反演精度评估方法、装置、设备以及存储介质，涉及电离层探测技术领域，所述方法包括通过星载合成孔径雷达获取电离层反演区域的观测数据，并提取所述观测数据中的电离层电子含量；将所述观测数据输入至预设电离层电子含量计算模型，得到所述电离层反演区域的目标电离层电子含量；基于所述目标电离层电子含量对所述电离层电子含量进行精度评估，本申请通过全球导航卫星系统技术反演得到的高精度电离层结果来评估星载合成孔径雷达反演电离层的精度，能更准确地评估出星载合成孔径雷达反演电离层的精度。
本发明授权电离层反演精度评估方法、装置、设备以及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种电离层反演精度评估方法，其特征在于，所述方法包括： 通过星载合成孔径雷达获取电离层反演区域的观测数据，并提取所述观测数据中的电离层电子含量； 将所述观测数据输入至预设电离层电子含量计算模型，得到所述电离层反演区域的目标电离层电子含量； 基于所述目标电离层电子含量对所述电离层电子含量进行精度评估； 其中，所述观测数据至少包括地面图像； 将所述观测数据输入至预设电离层电子含量计算模型，得到目标电离层电子含量，包括： 确定所述地面图像中的目标像元的经纬度坐标； 将所述经纬度坐标进行坐标转换，得到电离层穿刺点的坐标，所述电离层穿刺点为所述星载合成孔径雷达和所述目标像元之间在电离层薄层上的交叉点； 将所述电离层穿刺点的坐标输入至预设电离层电子含量计算模型，得到目标电离层电子含量。
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