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龙图腾网获悉南方电网数字电网研究院股份有限公司申请的专利一种芯片寿命评估方法、系统及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119291453B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411368697.8，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种芯片寿命评估方法、系统及存储介质是由蔡田田;李卓环;陈军健;向柏澄;陶伟;李俊业;邵杰设计研发完成，并于2024-09-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片寿命评估方法、系统及存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种芯片寿命评估方法、系统及存储介质，所述芯片寿命评估方法，包括：获取当前时段的芯片运行信息和芯片温度分布图；基于所述芯片温度分布图，得到芯片老化速率和当前故障概率；基于所述当前故障概率和所述芯片运行信息，得到当前受损率；基于所述当前受损率和所述芯片老化速率评估芯片的剩余寿命。受损率和芯片老化速率可以较好地表征芯片的受损程度，而芯片的受损程度与芯片的寿命高度相关，本发明从芯片的受损程度作为评价角度来评估芯片的剩余寿命，可以避免了对芯片通过多种测试仪器、以及复杂的测试流程进行综合测试，耗费大量的资源成本、时间成本以及人力成本的问题，进而可以有效提高了芯片的寿命评估效率。

本发明授权一种芯片寿命评估方法、系统及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片寿命评估方法，其特征在于，包括： 获取当前时段的芯片运行信息和芯片温度分布图； 基于所述芯片温度分布图，得到芯片老化速率和当前故障概率；具体为： 确定芯片的各芯片结构和芯片的各芯片结构连接位置； 基于所述芯片温度分布图，得到各芯片结构的升温速率、各芯片结构的温度范围变化速率和各芯片结构的温度传导率； 基于各芯片结构的升温速率和各芯片结构的温度范围变化速率，计算得到芯片老化速率和每个芯片结构的第一故障概率； 基于各芯片结构的温度传导率，得到各芯片结构连接位置的第二故障概率； 根据各芯片结构的第一预设权重值和各芯片结构连接位置的第二预设权重值，对所有芯片结构的第一故障概率和所有芯片结构连接位置的第二故障概率进行加权求和，得到当前故障概率； 基于所述当前故障概率和所述芯片运行信息，得到当前受损率； 基于所述当前受损率和所述芯片老化速率评估芯片的剩余寿命。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人南方电网数字电网研究院股份有限公司，其通讯地址为：510700 广东省广州市黄埔区中新广州知识城亿创街1号406房之86；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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