杭州暖芯迦电子科技有限公司曹振获国家专利权
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龙图腾网获悉杭州暖芯迦电子科技有限公司申请的专利一种芯片修调功能测试方法、装置、设备及介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119247107B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411606245.9,技术领域涉及:G06F11/00;该发明授权一种芯片修调功能测试方法、装置、设备及介质是由曹振;杨佳威;陈南设计研发完成,并于2024-11-12向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片修调功能测试方法、装置、设备及介质在说明书摘要公布了:本申请公开了一种芯片修调功能测试方法、装置、设备及介质,涉及芯片测试技术领域。应用于自动化测试设备,该方法包括:为待测试芯片配置通用输入输出接口;根据所述通用输入输出接口中的测试信号执行芯片测试模式,并获取所述自动化测试设备发送的串行数据;按照预设数据格式确定所述串行数据的数据流方向,并基于所述数据流方向将所述串行数据写入修调寄存器。通过本申请的技术方案,可以简化测试方法,缩短测试时间。
本发明授权一种芯片修调功能测试方法、装置、设备及介质在权利要求书中公布了:1.一种芯片修调功能测试方法,其特征在于,应用于自动化测试设备,包括: 为待测试芯片配置通用输入输出接口; 根据所述通用输入输出接口中的测试信号执行芯片测试模式,并获取所述自动化测试设备发送的串行数据; 按照预设数据格式确定所述串行数据的数据流方向,并基于所述数据流方向将所述串行数据写入修调寄存器; 所述为待测试芯片配置通用输入输出接口,包括: 为待测试芯片配置第一通用输入输出接口;所述第一通用输入输出接口用于为所述自动化测试设备和所述待测试芯片提供参考时钟信号; 为所述待测试芯片配置第二通用输入输出接口;所述第二通用输入输出接口用于提供测试数据信号; 为所述待测试芯片配置第三通用输入输出接口;所述第三通用输入输出接口用于为所述芯片测试模式提供使能信号; 为所述待测试芯片配置第四通用输入输出接口;所述第四通用输入输出接口用于为所述修调寄存器提供是否将数据存储到存储器的指示信号; 所述根据所述通用输入输出接口中的测试信号执行芯片测试模式,包括: 若检测到所述第三通用输入输出接口对应的所述使能信号拉高,则触发进入所述芯片测试模式; 相应的,所述基于所述数据流方向将所述串行数据写入修调寄存器之后,还包括:当所述串行数据成功写入所述修调寄存器时,将所述第三通用输入输出接口对应的所述使能信号拉低; 所述芯片修调功能测试方法,还包括: 分别设置第一预设字节长度的标志位、第二预设字节长度的数据位、以及第三预设字节长度的地址位; 从最高位开始依次通过所述标志位、所述数据位以及所述地址位确定所述预设数据格式; 按照预设数据格式确定所述串行数据的数据流方向,并基于所述数据流方向将所述串行数据写入修调寄存器,包括: 按照预设数据格式确定所述串行数据的数据流方向,当所述标志位对应的值满足预设条件时,数据开始发送,基于所述数据流方向将所述串行数据写入修调寄存器,所述修调寄存器最高位接受到所述标志位后锁定数据,直到使能信号无效解锁。
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