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龙图腾网获悉江西耀驰科技有限公司;江西兆驰半导体有限公司申请的专利Mini LED芯片分选方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119230452B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411347419.4，技术领域涉及：H01L21/67；该发明授权Mini LED芯片分选方法及系统是由朱兵兵;郭磊;董国庆;文国昇;金从龙设计研发完成，并于2024-09-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本Mini LED芯片分选方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种MiniLED芯片分选方法及系统，涉及芯片分选技术领域，所述方法包括：对晶圆中的晶粒进行抽测，以生成测试数据；根据所述测试数据填充抽测所形成的空挡数据，以使所述晶圆中的所有晶粒均对应有测试数据；对所述晶圆进行切割处理，以将所述晶圆中的晶粒切割成芯片；对所述晶圆进行扩张处理，以扩大所述芯片的间隔；对所述晶圆进行AOI检测，以生成检测数据；根据所述测试数据及检测数据对所述晶圆中的芯片进行分选处理，以将所述芯片分类至对应的等级；对所述晶圆进行目检处理，以识别分选后的所述芯片的外观缺陷。采用本发明，可实现异常晶粒的有效卡控，让异常晶粒在厂内卡住，减少晶粒异常PPM值，减少客户投诉，提高产品品质。

本发明授权Mini LED芯片分选方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种MiniLED芯片分选方法，其特征在于，包括： 对晶圆中的晶粒进行抽测，以生成测试数据；所述对晶圆中的晶粒进行抽测的步骤包括：构建直角平面坐标系；为所述晶圆中的晶粒分配坐标；分别沿横坐标方向及纵坐标方向等距抽取晶粒进行点测； 根据所述测试数据填充抽测所形成的空挡数据，以使所述晶圆中的所有晶粒均对应有测试数据；所述根据所述测试数据填充抽测所形成的空挡数据的步骤包括：将已进行点测的晶粒作为基准晶粒，将未进行点测的晶粒作为未测晶粒；根据相邻两个基准晶粒的测试数据，计算相邻两个基准晶粒之间的未测晶粒的测试数据；将已计算出的测试数据的未测晶粒更新为基准晶粒； 对所述晶圆进行切割处理，以将所述晶圆中的晶粒切割成芯片； 对所述晶圆进行扩张处理，以扩大所述芯片的间隔； 对所述晶圆进行AOI检测，以生成检测数据； 根据所述测试数据及检测数据对所述晶圆中的芯片进行分选处理，以将所述芯片分类至对应的等级； 对所述晶圆进行目检处理，以识别分选后的所述芯片的外观缺陷； 所述根据相邻两个基准晶粒的测试数据，计算相邻两个基准晶粒之间的未测晶粒的测试数据的步骤包括：提取相邻两个基准晶粒的测试数据；获取相邻两个基准晶粒之间的未测晶粒的数量；根据公式Qi=Qs+i[Qe-QsN+1]，计算相邻两个基准晶粒之间的未测晶粒的测试数据；其中，Qs为相邻两个基准晶粒中起始基准晶粒的测试数据，Qe为相邻两个基准晶粒中末位基准晶粒的测试数据，N为相邻两个基准晶粒之间的未测晶粒的数量，Qi为相邻两个基准晶粒之间第i个未测晶粒的测试数据。

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