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龙图腾网获悉闽都创新实验室申请的专利一种电子能量损失谱的批量信息处理及成像方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119198793B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411134775.8，技术领域涉及：G01N23/04；该发明授权一种电子能量损失谱的批量信息处理及成像方法是由韩丽丽;冯世强;王允健设计研发完成，并于2024-08-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种电子能量损失谱的批量信息处理及成像方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种电子能量损失谱的批量信息处理及成像方法，属于电子能量损失谱信息处理领域。涉及电子能量损失谱的特征提取和分析，主要用于纳米材料的特征信息分析。通过集成幂律背底扣除算法、傅里叶比率解卷积去多重散射算法、多阶高斯峰背底拟合算法、峰值积分算法等批处理算法，可以有效的解决电子能量损失谱处理难度大、处理效率低的问题，为更加广泛的技术拓展提供支持。

本发明授权一种电子能量损失谱的批量信息处理及成像方法在权利要求书中公布了：1.一种电子能量损失谱的批量信息处理及成像方法，其特征在于，包括电子能量损失谱的批量信息处理、二维成像；其中，批量信息处理过程集成批处理算法实现电子能量损失谱的批量信息处理；电子能量损失谱在批量信息处理前之前，采用矩阵结构存储，存储结构为[x,y,z,n]，其中x,y为电子能量损失谱的采集长度x和宽度y，z为电子能量损失谱谱图的能量采集长度，n为批处理的数量；同一批次中包含零损失Low-loss谱图[x,y,z,n]0，能量范围m0，和高能损失High-loss谱图[x,y,z,n]1，能量范围m1；多批次处理中，有不同的批次k；批量信息处理过程包括能量值校正、幂律背底扣除、对数比率厚度计算、傅里叶比率解卷积去多重散射、多阶高斯峰背底拟合、峰值积分；所述能量值校正具体实现如下： 提取Low-loss谱图中每个[x,y]0点处的峰值信号，计算每个点最强峰值处的能量值与0值的差异Δxenergy，将high-loss谱图[x,y]1中每一点能量值位移相应的Δxenergy； 所述幂律背底扣除具体实现如下： 在电子能量损失谱中，背景呈现指数衰减特征，基于这一特征，采用幂律算法对背底进行扣除，计算公式为： I＝a·xbenergy1 其中，a和b是拟合参数，xenergy是拟合区域的能量值；为避免测量误差，拟合信号被定义为一个光谱图像的平均值；在批量处理过程中，选择峰前50eV～100eV的能量范围作为背景拟合区域，拟合信号被定义为每个光谱图像[x,y]内所有点的平均值，同时，考虑每个点的信号差异，使用倍率参数ci进行优化： I＝Iacquire-ci·a·xbenergy2 其中，Iacquire为测量值，I为扣除背景后的信号。

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