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清华大学符泰然获国家专利权

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龙图腾网获悉清华大学申请的专利光学测温不确定度的标定方法、光学测温方法及标定装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN118654780B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202410753109.6,技术领域涉及:G01K15/00;该发明授权光学测温不确定度的标定方法、光学测温方法及标定装置是由符泰然;吴宇颂;彭威;田博宇;张宇航设计研发完成,并于2024-06-12向国家知识产权局提交的专利申请。

光学测温不确定度的标定方法、光学测温方法及标定装置在说明书摘要公布了:一种光学测温不确定度的标定方法、光学测温方法及标定装置,该光学测温不确定度的标定方法包括:使目标对象处于不同的温度,根据双指数函数以及目标对象在每个温度下的荧光衰减曲线得到目标对象在每个温度下的荧光寿命;根据目标对象在不同温度下的荧光寿命得到荧光寿命函数,荧光寿命函数表示荧光信号的寿命随温度变化的函数;根据荧光寿命函数得到目标对象在每个温度下的温度计算不确定度和目标对象在每个温度下的温度实验不确定度;根据目标对象在所有温度下的温度计算不确定度以及目标对象在所有温度下的温度实验不确定度,得到目标对象的光学测温不确定度的标定函数,标定函数用于完成光学测温不确定度的确定。

本发明授权光学测温不确定度的标定方法、光学测温方法及标定装置在权利要求书中公布了:1.一种光学测温不确定度的标定方法,包括: 使目标对象处于不同的温度,根据双指数函数以及所述目标对象在每个温度下的荧光衰减曲线得到所述目标对象在每个温度下的荧光寿命;所述荧光衰减曲线表示在停止脉冲激光的激发后,所述目标对象所产生的荧光信号随时间变化的曲线,所述双指数函数包括第一衰减部分和第二衰减部分,所述第一衰减部分对应于所述荧光信号的第一衰减过程,所述第二衰减部分对应于所述荧光信号的第二衰减过程; 根据所述目标对象在不同温度下的荧光寿命得到荧光寿命函数,所述荧光寿命函数表示所述荧光信号的寿命随温度变化的函数; 根据所述荧光寿命函数得到所述目标对象在每个温度下的温度计算不确定度和所述目标对象在每个温度下的温度实验不确定度;以及 根据所述目标对象在所有温度下的温度计算不确定度以及所述目标对象在所有温度下的温度实验不确定度,得到所述目标对象的光学测温不确定度的标定函数,所述标定函数用于完成所述光学测温不确定度的确定。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人清华大学,其通讯地址为:100084 北京市海淀区清华园1号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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