买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉中国科学院上海光学精密机械研究所申请的专利同轴多波长横向剪切波前测量系统及测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116952394B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310829093.8，技术领域涉及：G01J9/02；该发明授权同轴多波长横向剪切波前测量系统及测量方法是由蔡智骞;张军勇;杨朋千;朱健强设计研发完成，并于2023-07-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本同轴多波长横向剪切波前测量系统及测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种同轴多波长横向剪切波前测量系统。系统包括梯度分离单元、波前测量单元和复原单元。待测信号波前首先进入由一个衍射透镜构成的分束单元对不同波长波前实现梯度分离，之后通过波前测量单元进行四波横向剪切干涉，获取剪切干涉图。复原单元中，计算机通过傅利叶变换，在干涉图频谱中根据波前梯度不同实现光束分离，后续复原算法根据各个波长的频谱位置获取梯度引入量，进而复原原始波前。本发明所公开的同轴多波长横向剪切波前测量系统，针对现有的同轴多波长光束在不分束情况下难以测量的问题，实现了多波长光束的同轴单次测量。具有结构简单，测量方便等优点，也可对大口径、单发次的高能激光进行测量。

本发明授权同轴多波长横向剪切波前测量系统及测量方法在权利要求书中公布了：1.同轴多波长横向剪切波前测量系统，其特征在于，包括梯度分离单元Ⅰ、波前测量单元Ⅱ和复原单元Ⅲ； 所述梯度分离单元Ⅰ，用于将不同波长的入射光汇聚在不同的焦点上，从而使汇聚光束具有不同的梯度，以方便后续波前测量单元提取所需干涉信息； 所述波前测量单元Ⅱ，用于产生横向剪切干涉图，并进行采集，后续处理获取待测波前信息； 所述复原单元Ⅲ，用于从采集的干涉图中复原多波长的波前信息； 所述梯度分离单元Ⅰ为一个衍射透镜1，该衍射透镜对于不同波长的光具有不同的焦距，焦距与波长呈反比，使每个光束具有不同的梯度；所述波前测量单元Ⅱ由改进哈特曼光栅2和CCD成像系统3构成，多波长汇聚光通过改进哈特曼光栅2，分别产生四波横向剪切干涉，各个信号的横向剪切干涉图叠加在CCD成像系统3上接收；干涉图进行傅利叶变换获取频谱；由中心0级频率S0傅利叶反变换得到强度信息，各个波长相位信息经过平面波标定，在频谱中存在X和Y方向+1级固定位置；记该位置和频谱中心的距离为a，将某一波长待测波前在X和Y方向的+1级滤波后，分别向频谱中心平移a距离后进行傅利叶反变换后的虚数取角，即可获得X和Y方向的差分波前相位；根据剪切量对两个方向的差分波前相位进行傅利叶变换，进行最小二乘法整合后，傅利叶反变换获得待测波前相位。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院上海光学精密机械研究所，其通讯地址为：201800 上海市嘉定区清河路390号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。