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龙图腾网获悉大连理工大学申请的专利一种超声回波相位一阶导数谱测定涂层界面刚度的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116642946B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310549880.7，技术领域涉及：G01N29/04；该发明授权一种超声回波相位一阶导数谱测定涂层界面刚度的方法是由马志远;林莉;齐天之设计研发完成，并于2023-05-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种超声回波相位一阶导数谱测定涂层界面刚度的方法在说明书摘要公布了：一种超声回波相位一阶导数谱测定涂层界面刚度的方法，其属于超声无损检测技术领域。该方法通过超声波垂直入射至涂层试样进行检测，采集了耦合介质涂层和涂层基体界面的混叠回波PR，对PR进行快速傅里叶变换获得展开相位ΦR，将ΦR对频率f求一阶偏导构建超声回波相位一阶导数谱UEPDS，提取UEPDS中极值频率，依据极值频率与界面刚度Kn之间的理论关系，反演界面刚度大小，间接实现涂层基体界面结合强度的定量测量。本方法降低了材料声衰减、界面粗糙度等因素对检测结果的影响，具有较高定量精度、适用范围广、检测深度范围大、操作容易等优势的同时摆脱了传统构建URCAS或URCPS时对高质量参考信号的依赖。

本发明授权一种超声回波相位一阶导数谱测定涂层界面刚度的方法在权利要求书中公布了：1.一种超声回波相位一阶导数谱测定涂层界面结合强度的方法，其测量步骤如下： 1测量待测试样各层材料的密度ρi、纵波声速vli以及涂层的厚度h，通过式1计算各层材料的声阻抗Zi，其中，i为层的序号，i=1，代表耦合介质层，i=2，代表涂层，i=3，代表基体层； 1 2将步骤1中测量的声学参数代入推导的UEPDS极值频率fn与界面刚度Kn的本构关系式中，如式2所示，通过迭代的方法计算不同界面刚度下的理论极值频率fnthe，其中n为极值频率的阶次，f为频率，选择超声波探头的频率，使其有效频带覆盖极值频率的变化范围； 2 3超声波探头耦合于待测试样的表面，超声波入射到耦合介质涂层界面、涂层基体界面，采集包含耦合介质涂层以及涂层基体界面多次回波的A扫描波形PR； 4截取步骤3中采集的信号PR的耦合介质涂层界面反射回波数据，并做快速傅里叶变换，构建功率谱X0f，将功率谱X0f中幅值大于最大幅值-12dB阈值的频率范围划定为有效频带[fb,fe]；再对包含耦合介质涂层及涂层基体界面多次回波信号PR整体做快速傅里叶变换，通过公式3得到待测试样对应位置超声回波展开相位ΦR，计算有效频带[fb,fe]内的ΦR对频率f的一阶偏导，得到超声回波相位导数谱UEPDS； 3 4 其中RealFFTPR与ImgFFTPR分别表示PR经快速傅里叶变换后的实部与虚部； 5构建UEPDS后，识别试验UEPDS有效频带[fb,fe]内的极值频率fnexp，判断极值频率的阶数n，并逐一记录； 6基于理论极值频率fnthe和试验采集的极值频率fnexp构建目标函数，如式5所示，通过遗传算法搜索目标函数的最小值，将目标函数最小值对应的界面刚度作为测量结果，实现界面刚度的准确反演； ； 5。

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