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龙图腾网获悉哈尔滨工业大学申请的专利一种平面小曲率测量仪器及其使用方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116358390B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310306986.4，技术领域涉及：G01B5/20；该发明授权一种平面小曲率测量仪器及其使用方法是由王波;吴言功;范雨欣;乔政;丁飞设计研发完成，并于2023-03-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种平面小曲率测量仪器及其使用方法在说明书摘要公布了：一种平面小曲率测量仪器及其使用方法，属于超精密测量仪器技术领域。横桥中部插接有扭簧表，外侧滑动可限位套装有滑块二及滑块一，滑块二及滑块一对称设置在扭簧表两侧，滑块二下触点三及触点二，滑块一下有触点一。方法如下：将三个触点放在标准面上进行基准面校准；选定任意角度放置本发明，使扭簧表测头接触待测平面区域后读取扭簧表示数，计算得到平面曲率；多次改变测量仪器摆放角度后重复上一步骤；进行接触变形补偿计算，实现精准测量。本发明利用扭簧表检测被测面的小曲率，能够实现在位测量，在磨床等工作现场进行直接测量，避免离线检测带来的定位基准误差，更接近实际加工情况，且小体积的测量仪器能够提高测量速度。

本发明授权一种平面小曲率测量仪器及其使用方法在权利要求书中公布了：1.一种平面小曲率测量仪器的使用方法，所述方法是基于测量仪器完成的，所述测量仪器包括横桥1、滑块二2、扭簧表3以及滑块一4；所述横桥1的中部插接有扭簧表3，横桥1的外侧滑动可限位套装有滑块二2以及滑块一4，所述滑块二2以及滑块一4对称设置在扭簧表3的两侧，滑块二2的下表面设有触点三5以及触点二6，所述滑块一4的下表面设有触点一8，所述触点一8、触点三5以及触点二6的触头位于同一平面；其特征在于：所述方法包括如下步骤： S1：将测量仪器的触点一8、触点三5以及触点二6放置在标准面9上进行基准面校准； S2：选定曲面的任意角度放置测量仪器，使扭簧表3的测头7接触待测曲面区域后读取扭簧表3的示数为x，计算该角度面的平面曲率； S201：定义：测头7中心与触点一8中心的距离为ɑ； S202：根据触点一8与被测面的接触点、测头7与被测面的接触点以及触点二6和触点三5的连线与由触点一8和测头7确定的平面的交点确定被测角度面，定义所述角度面的圆心与测头7的距离为曲率半径ρ； S203：计算得曲率半径； S204：得到平面曲率； S3：改变测量仪器摆放角度，重复S2； S4：多次重复S3，拟合得到平面曲率； S5：进行赫兹接触变形补偿计算，实现精准测量； S501：定义：触点一8与被测面之间存在赫兹接触产生的局部弹性变形为，触点二6与被测面之间存在赫兹接触产生的局部弹性变形为，触点三5与被测面之间存在赫兹接触产生的局部弹性变形为； S502：根据帕姆格林公式计算触点一8与被测面之间存在的赫兹接触产生的局部弹性变形： 其中： F为测量仪器的自重； l为触点一8与被测面接触时的有效长度； 为触点一8的泊松比； 为被测面的泊松比； 为触点一8的弹性模量； 为被测面的弹性模量； S503：由于触点二6以及触点三5均与触点一8材料相同，故； S504：通过环节误差与系统综合误差的关系计算得到综合接触变形； S505：对扭簧表读数进行位移补偿，得到最终的测量结果； S505所述位移补偿包括如下步骤： S50501：根据S204得到的无赫兹接触变形时的曲率为； S50502：结合综合接触变形，计算可得补偿后的曲率半径； S50403：得到最终曲率。

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