紫光同芯微电子有限公司柴森获国家专利权
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龙图腾网获悉紫光同芯微电子有限公司申请的专利一种纠错码的译码方法、装置、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116015315B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211738080.1，技术领域涉及：H03M13/15；该发明授权一种纠错码的译码方法、装置、设备及介质是由柴森;张凯设计研发完成，并于2022-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种纠错码的译码方法、装置、设备及介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种纠错码的译码方法、装置、设备及介质，包括：获取纠错码对应的伽罗华域方程，并确定译码后的错误位置对应的目标关系式。基于目标关系式确定多个共轭位置对，针对任一共轭位置对，基于指数与多项式对照表确定共轭位置对中第一位置的指数系数对应的第一多项式和第二位置的指数系数对应的第二多项式。将第一多项式的系数和第二多项式的系数进行异或，获取异或结果。当异或结果与伽罗华域方程的目标系数相匹配时，确定该第一位置和第二位置为错误位置。基于伽罗华域方程以及韦达定理的应用，可以基于指数与多项式的对照表确定错误位置，无需遍历所有可能的取值代入伽罗华域方程，以减少译码过程中的计算量，降低复杂度。
本发明授权一种纠错码的译码方法、装置、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种纠错码的译码方法，其特征在于，所述方法包括： 获取纠错码对应的伽罗华域方程，所述纠错码总长为预设位数； 基于所述伽罗华域方程确定所述纠错码译码后的错误位置对应的目标关系式，所述目标关系式是基于韦达定理推导得到的； 基于所述目标关系式确定多个共轭位置对； 针对所述多个共轭位置对中的任一共轭位置对，基于伽罗华域的指数与多项式对照表，确定所述共轭位置对中第一位置的指数系数所对应的第一多项式和第二位置的指数系数所对应的第二多项式； 将所述第一多项式的系数和所述第二多项式的系数进行异或，获取异或结果； 当所述异或结果与所述伽罗华域方程的目标系数相匹配时，确定所述第一位置和所述第二位置为错误位置。
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