上海集成电路研发中心有限公司崔晋彬获国家专利权
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龙图腾网获悉上海集成电路研发中心有限公司申请的专利热响应时间获取方法、装置、设备、系统及可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115824429B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211728644.3，技术领域涉及：G01J5/90；该发明授权热响应时间获取方法、装置、设备、系统及可读存储介质是由崔晋彬设计研发完成，并于2022-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本热响应时间获取方法、装置、设备、系统及可读存储介质在说明书摘要公布了：本申请提供一种热响应时间获取方法、装置、设备、系统及可读存储介质。包括：测试系统包括脉冲电源、测试模块、数据采集器和处理装置，数据采集器的输入端与测试模块的输出端连接，数据采集器的输出端与处理装置连接，该方法应用于处理装置，在脉冲电源为测试模块提供脉冲电压时，获取数据采集器采集的多个输出电压值；输出电压值用于表征待测探测器两端的电压变化值；根据多个输出电压值，获取输出电压值随时间的变化曲线；根据输出电压值随时间的变化曲线，获取待测探测器的热响应时间；输出热响应时间。本申请能够提高热响应时间测试便捷性的同时提高测试精度。
本发明授权热响应时间获取方法、装置、设备、系统及可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种热响应时间获取方法，其特征在于，测试系统包括脉冲电源、测试模块、数据采集器和处理装置，所述测试模块包括平衡电桥，所述平衡电桥包括测试臂、比较臂，所述测试臂包括待测探测器和第一定值电阻，所述比较臂包括第二定值电阻和可变电阻，所述数据采集器的输入端与所述测试模块的输出端连接，所述数据采集器的输出端与所述处理装置连接，所述方法应用于所述处理装置，所述方法包括： 在所述脉冲电源为所述测试模块提供脉冲电压时，获取所述数据采集器采集的多个输出电压值；所述输出电压值用于表征所述待测探测器两端的电压变化值； 根据多个所述输出电压值，获取所述输出电压值随时间的变化曲线； 根据所述输出电压值随时间的变化曲线，获取所述待测探测器的热响应时间； 输出所述热响应时间。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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