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龙图腾网获悉电子科技大学申请的专利一种高反射率零件图像的自适应耀光抑制方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115809972B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211466463.8，技术领域涉及：G06T5/50；该发明授权一种高反射率零件图像的自适应耀光抑制方法是由车凯;吕坚;赵琳通;米冠宇;周云;阙隆成;和顺隆设计研发完成，并于2022-11-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种高反射率零件图像的自适应耀光抑制方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种高反射率零件图像的自适应耀光抑制方法，涉及智能制造和数字图像处理技术领域，旨在解决多次不同角度的采集会导致采集信息冗余，增加后端信息存储、处理难度，提高信息处理成本，降低生产效率的技术问题，采用的技术方案是，采集高反射率零件图片；求得自适应分割因子；将原始图像分割成图像块，并求得图像块的均值与原始图像均值的差值；制得背景矩阵；将背景矩阵插值为矩阵；原始图像减去插值后的图像即为耀光抑制后的图像；将高反射率零件的图像采集由传统的多角度拍照和多角度打光抑制耀光方式转变为通过图像处理算法抑制耀光，减少了采集系统的自动化流程节拍，降低了后端信息存储冗余、提高信息处理效率。

本发明授权一种高反射率零件图像的自适应耀光抑制方法在权利要求书中公布了：1.一种高反射率零件图像的自适应耀光抑制方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1，采用反射光方式，采集成像质量最佳的高反射率零件图片； 步骤2，对采集的图片做直方图统计，求得自适应分割因子； 步骤3，将原始图像分割成以分割因子为宽高的图像块，并求得图像块的均值与原始图像均值的差值； 步骤4，求得步骤3中差值的最小值，并将步骤3中的差值与最小值作差，得到背景矩阵； 步骤5，将背景矩阵插值为与原始图像大小相同的矩阵； 步骤6，原始图像减去插值后的图像即为耀光抑制后的图像； 所述步骤2中，对采集图片进行直方图分布统计，并求解自适应分割因子l，具体包括以下步骤： 步骤201，创建直方图数组Hist_Tuple，遍历原始图像将像素点的灰度，统计值存入数组Hist_Tuple对应列； 步骤202，设定统计阈值TSta_threshold； 步骤203，以灰度值为分割点，计算Hist_Tuple中大于像素点个数值占总像素的百分比，并与统计阈值TSta_threshold比较，得到分割因子l，如下式所示，式中表示向下取整：

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