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龙图腾网获悉中国科学院理化技术研究所申请的专利基于能量法的材料辐射性能测量装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115753599B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111032570.5，技术领域涉及：G01N21/01；该发明授权基于能量法的材料辐射性能测量装置是由赵雨晨;李来风;张恒成;沈福至;黄荣进设计研发完成，并于2021-09-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于能量法的材料辐射性能测量装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于能量法的材料辐射性能测量装置，包括真空罩和制冷机，真空罩内设有铜屏，铜屏内设有测量组件；制冷机，与真空罩相连接，且制冷机的制冷端与测量组件相连接；测量组件包括黑体、至少一个样品台、反射机构以及测量机构，反射机构适于转至黑体或者样品台，接收黑体或者样品台发射的辐射能量并传输至测量机构。通过上述方式，真空罩内设有测量组件，且测量组件包括至少一个样品台和黑体，反射机构可以转至黑体或者样品台对黑体和样品台发射的辐射能量向测量机构进行传输，以实现对黑体和样品台上放置的材料样品辐射能量的测量，进而对比黑体与样品台上放置样品的辐射能量，实现低温下样品表面辐射性能的测量。

本发明授权基于能量法的材料辐射性能测量装置在权利要求书中公布了：1.一种基于能量法的材料辐射性能测量装置，其特征在于，包括： 真空罩，内设有铜屏，所述铜屏内设有测量组件； 制冷机，与所述真空罩相连接，且所述制冷机的制冷端与所述测量组件相连接； 所述测量组件包括黑体、至少一个样品台、反射机构以及测量机构，所述反射机构适于转至所述黑体或者所述样品台，接收所述黑体或者所述样品台发射的辐射能量并传输至测量机构； 还包括架体，所述架体顶部设置有所述真空罩，所述架体远离所述真空罩的一侧设置所述制冷机； 所述架体顶部设有支撑平台，所述支撑平台用于支撑所述铜屏，所述铜屏内还设有与所述支撑平台相连接的测量台，所述黑体、所述样品台以及所述反射机构放置于所述测量台，所述测量机构安装于所述真空罩且接收端延伸至所述铜屏内侧； 所述反射机构包括与所述测量台固定连接的第一反射金镜以及与所述测量台转动连接的第二反射金镜； 所述第一反射金镜位于所述第二反射金镜正上方，所述第一反射金镜具备第一反射面，所述第二反射金镜具备朝向所述第一反射面且与所述第一反射面夹角设置的第二反射面，所述测量机构的接收端与所述第一反射金镜的位置相对应； 还包括驱动组件，所述驱动组件包括驱动电机以及所述驱动电机相连接的磁流体密封机构，所述驱动电机的输出端穿过所述磁流体密封机构并延伸至所述第二反射金镜，以使得所述第二反射金镜适于转至所述黑体或者所述样品台； 所述制冷机朝向所述架体的一侧设置碟片波纹管； 所述铜屏外周侧围设有保温层，所述铜屏内周侧涂覆有黑体涂层。

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