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龙图腾网获悉清华大学申请的专利内螺纹小径测量方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115507761B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110692263.3，技术领域涉及：G01B11/12；该发明授权内螺纹小径测量方法及装置是由刘大猛;胡香敏设计研发完成，并于2021-06-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本内螺纹小径测量方法及装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种内螺纹小径测量方法及装置，该方法包括将待测内螺纹固定设置于工位预设位置，利用内孔展开镜按照预设拍照条件拍摄待测内螺纹的内孔展开图；对内孔展开图进行二值化，确定初始二值轮廓图像；对初始二值轮廓图像的轮廓像素点进行聚类，形成包含不同像素半径大小螺纹的初始像素螺纹图；根据按照像素半径大小排序后的像素螺纹图中螺纹的像素半径及标定后标准螺纹件的像素半径及实际半径，确定待测内螺纹的实际半径。本发明通过对二值轮廓图像的轮廓像素点进行聚类，以形成包含不同像素半径大小螺纹的像素螺纹图，基于螺纹的像素半径利用标准螺纹件的像素半径及实际半径，实现内螺纹小径测量，提高测量内螺纹小径的准确性。

本发明授权内螺纹小径测量方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种内螺纹小径测量方法，其特征在于，包括： 将待测内螺纹固定设置于工位预设位置，利用设置在待测内螺纹的螺纹孔正上方预设高度的内孔展开镜拍摄待测内螺纹的内孔展开图； 对拍摄的待测内螺纹的内孔展开图进行二值化，确定待测内螺纹的初始二值轮廓图像； 对待测内螺纹的初始二值轮廓图像的轮廓像素点进行聚类，形成包含不同像素半径大小螺纹的初始像素螺纹图； 根据按照像素半径大小排序后的像素螺纹图中螺纹的像素半径及标定后标准螺纹件的像素半径及实际半径，确定待测内螺纹的实际半径； 其中，对待测内螺纹的初始二值轮廓图像的轮廓像素点进行聚类，形成包含不同像素半径大小螺纹的初始像素螺纹图，包括： 根据轮廓降噪后的二值轮廓图像中轮廓像素点的方向角及像素半径，以及标定后的像素半径矫正参数，对轮廓像素点的像素半径进行更新，以确定轮廓像素点更新后的像素半径；其中，确定轮廓像素点的方向角及像素半径的计算方法为： Rho＝sqrti-m22+j-n22； 式中，Theta代表方向角，Pho代表像素半径，m、n为图像的像素，i、j为某轮廓像素点的坐标； 在与轮廓像素点更新后的像素半径最接近螺纹的像素半径与轮廓像素点更新后的像素半径的像素半径差值小于初始像素半径差时，将轮廓像素点作为与轮廓像素点更新后的像素半径最接近螺纹的轮廓像素点，同时更新初始像素半径差为像素半径差值； 在初始像素半径差不小于标定后的像素半径矫正参数的预设比例时，将轮廓像素点作为新螺纹的像素点，将轮廓像素点更新后的像素半径作为新螺纹的像素半径； 其中，对轮廓像素点的像素半径进行更新的计算关系式为： 式中，Rho_new表示更新后的轮廓像素点的像素半径，dr表示标定后的像素半径矫正参数。

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