西安电子科技大学朱家铎获国家专利权
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龙图腾网获悉西安电子科技大学申请的专利基于ScAlN数字合金的极化可调HEMT及其制备方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115458406B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210271020.7,技术领域涉及:H10D30/01;该发明授权基于ScAlN数字合金的极化可调HEMT及其制备方法是由朱家铎;尚蔚;许晟瑞;张雅超;张金风;张进成;郝跃设计研发完成,并于2022-03-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于ScAlN数字合金的极化可调HEMT及其制备方法在说明书摘要公布了:本发明提供的一种基于ScAlN数字合金的极化可调HEMT及其制备方法,使用MOCVD工艺在AlN插入层3上以10个AlScN双层为周期通过调整ScN层和AlN层组合顺序或和各自层数生长ScN层和AlN层,形成具有不同极化强度或和不同组分的ScAlN数字合金势垒层4,本发明通过调整ScN层和AlN层组合顺序以在ScAlNGaN异质结界面处产生不同浓度的二维电子气,以使得ScAlN材料在同组分下具有不同的极化强度;同时用过同质外延GaN沟道层的方式降低异质外延产生的位错等缺陷,减小漏电。
本发明授权基于ScAlN数字合金的极化可调HEMT及其制备方法在权利要求书中公布了:1.一种基于ScAlN数字合金的极化可调HEMT的制备方法,其特征在于,包括: 步骤一:获取GaN衬底1; 步骤二:使用MOCVD工艺在GaN衬底1上同质外延生长GaN沟道层2; 步骤三:使用MOCVD工艺在GaN沟道层2上淀积AlN插入层3; 步骤四:使用MOCVD工艺在AlN插入层3上以10个AlScN层为周期通过调整ScN层和AlN层组合顺序或和各自层数生长ScN层和AlN层,形成具有不同极化强度或和不同组分的ScAlN数字合金势垒层4; 其中,所述AlN层个数与ScN层个数的倍数决定ScAlN数字合金势垒层4中Sc组分大小,组合顺序中ScN层之间的距离决定ScAlN数字合金势垒层4的极化强度; 步骤五:使用MOCVD工艺在ScAlN数字合金势垒层4上生长GaN帽层5; 步骤六:使用ALD工艺在GaN帽层5上生长SiN钝化层6; 步骤七:在SiN钝化层6上制作掩膜,使用电子束蒸发技术在SiN钝化层6上生长金属W作为栅电极10; 步骤八:在SiN钝化层6上制作掩膜,使用RIE干法刻蚀技术分别去除左右边缘向内的SiN钝化层6,并使用离子注入技术向去除SiN钝化层6的两个欧姆接触区域注入Si离子,形成源极欧姆接触7和漏极欧姆接触8; 步骤九:使用电子束蒸发技术在两个欧姆接触正上方分别淀积TiAlNiAu金属组合作为源极9和漏极11。
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