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龙图腾网获悉昭和电工株式会社申请的专利磁特性测定装置以及磁特性测定方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115436851B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210607429.1，技术领域涉及：G01R33/12；该发明授权磁特性测定装置以及磁特性测定方法是由张磊;工藤史人;平井佑纪;蒔田将行;山中谦亮设计研发完成，并于2022-05-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本磁特性测定装置以及磁特性测定方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种磁特性测定装置以及磁特性测定方法,其能够对构成热辅助磁记录介质的磁性层的有效磁特性进行评价。用于对磁记录介质的磁特性进行测定的磁特性测定装置包括:旋转机构,其用于使上述磁记录介质旋转；加热冷却机构,其用于对上述磁记录介质进行加热或冷却；温度测定机构,其用于对上述磁记录介质的温度进行测定；激光加热机构,其与上述磁记录介质的测定部位相对配置,用于以非接触方式对上述测定部位进行加热；磁写入部,其与上述测定部位相对配置,用于以非接触方式使上述测定部位磁化；以及磁读取部,其与上述测定部位相对配置,用于以非接触方式对上述测定部位的漏磁场进行读取。

本发明授权磁特性测定装置以及磁特性测定方法在权利要求书中公布了：1.一种磁特性测定装置，其用于对磁记录介质的磁特性进行测定，该磁特性测定装置包括： 旋转机构，其用于使上述磁记录介质旋转； 加热冷却机构，其用于对上述磁记录介质进行加热或冷却； 温度测定机构，其用于对上述磁记录介质的温度进行测定； 激光加热机构，其与上述磁记录介质的测定部位相对配置，用于以非接触方式对上述测定部位进行加热； 磁写入部，其与上述测定部位相对配置，用于以非接触方式使上述测定部位磁化；以及 磁读取部，其与上述测定部位相对配置，用于以非接触方式对上述测定部位的漏磁场进行读取， 上述磁特性测定装置构成为，在测定时，通过重复进行利用上述激光加热机构和上述磁写入部将上述磁记录介质的测定部位磁化为饱和状态的工序、以及利用上述激光加热机构使磁化为饱和状态的上述测定部位退磁的工序，来求出上述退磁的工序中的激光加热量与漏磁场的关系，并根据该激光加热量与漏磁场的关系，计算上述磁记录介质的磁特性， 上述磁特性包括上述磁记录介质的有效居里温度，该有效居里温度是上述磁记录介质在漏磁场饱和磁化量=0.5时的温度， 该有效居里温度根据下述两个式子来计算： T0.5=CE×LP1+X， T0.5=CE×LP2+Y， 其中，LP1表示温度X的状态下上述磁记录介质中照射激光而使漏磁场饱和磁化量=0.5时向上述激光加热机构输入的电流值，LP2表示温度Y的状态下上述磁记录介质中照射激光而使漏磁场饱和磁化量=0.5时向上述激光加热机构输入的电流值，CE表示加热效率，且T0.5表示上述有效居里温度，上述两个式子中向上述激光加热机构输入的电流值对应于上述激光加热量， 上述温度X与上述温度Y不同， 上述温度X和上述温度Y均小于居里温度，且通过加热冷却机构以及温度测定机构来进行保持。

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