西安电子工程研究所白振强获国家专利权
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龙图腾网获悉西安电子工程研究所申请的专利一种半导体分立器件通用测试系统获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223582078U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520260758.2，技术领域涉及：G01R31/26；该实用新型一种半导体分立器件通用测试系统是由白振强;程馨毅;毛阿妮;张小玲;王震辰;管沛;刘媛;韩鑫设计研发完成，并于2025-02-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种半导体分立器件通用测试系统在说明书摘要公布了：本公开实施例是关于一种半导体分立器件通用测试系统。该系统包括：半导体分立器件通用测试板、测试台、PC机和电源；半导体分立器件通用测试板与测试台电连接；测试台分别与PC机和电源电连接；PC机与电源电连接。本公开实施例的雷达信号处理机自动测试系统，该半导体分立器件通用测试系统适用于多种封装类型半导体器件的测试，只需要将待测试的半导体分立器件放入至其对应的测试座中，将待测试半导体分立器件对应的短路线闭合且断开其他测试座对应的开关，且PC机设置待测试半导体分立器件的测试类型，即可完成对任意一种类型半导体分立器件的自动测试，减少了测试时间和测试成本。
本实用新型一种半导体分立器件通用测试系统在权利要求书中公布了：1.一种半导体分立器件通用测试系统，其特征在于，该系统包括：壳体，半导体分立器件通用测试板、测试台、PC机和电源； 半导体分立器件通用测试板与测试台电连接； 测试台分别与PC机和电源电连接； PC机与电源电连接。
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