上海通微分析技术有限公司闫超获国家专利权
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龙图腾网获悉上海通微分析技术有限公司申请的专利一种光源稳定性检测机构获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223581771U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-21发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520296289.X，技术领域涉及：G01N21/64；该实用新型一种光源稳定性检测机构是由闫超;陈斌;姚凡;张静;陈国华;刘鹏飞;帅明设计研发完成，并于2025-02-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种光源稳定性检测机构在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种光源稳定性检测机构，包括监控室，监控室内具有：分束镜，能够将光源射来荧光中的部分穿过用以后续的物质检测，部分则进行反射；入射凸镜套筒，设于分束镜侧部，接收分束镜的发射荧光并进行聚光；硅光电池，设于入射凸镜套筒后侧，接收入射凸镜套筒的聚光用以检测光源的能量强度是否稳定。通过对光源发出的荧光进行分束，一部分穿过至后续检测槽进行检测物质，而另一部分则被反射至硅光电池，通过硅光电池来检测光源的能量强度，以实现在线的实时判断光源的稳定性。
本实用新型一种光源稳定性检测机构在权利要求书中公布了：1.一种光源稳定性检测机构，其特征在于，包括监控室，监控室内具有： 分束镜，能够将光源射来荧光中的部分穿过用以后续的物质检测，部分则进行反射； 入射凸镜套筒，设于分束镜侧部，接收分束镜的发射荧光并进行聚光； 硅光电池，设于入射凸镜套筒后侧，接收入射凸镜套筒的聚光用以检测光源的能量强度是否稳定。
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