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龙图腾网获悉北京忆恒创源科技股份有限公司申请的专利SSD阶段性验证测试方法及存储设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120808860B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511270758.1，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权SSD阶段性验证测试方法及存储设备是由任玉峰;王玥设计研发完成，并于2025-09-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本SSD阶段性验证测试方法及存储设备在说明书摘要公布了：本公开涉及一种SSD阶段性验证测试方法及存储设备，属于存储技术领域。所述方法包括获取SSD全盘容量随机写性能作为目标性能；根据目标性能调整用户容量，通过测试得到目标容量；清除全盘容量的用户数据；根据目标容量设置SSD用户容量，进行随机写性能快速测试，得到性能快速测试结果。本公开实施例，可以在研发阶段快速评估性能，相较于传统性能测试方式，小时天级别的测试时间，通过快速测试可以降至分钟级别，缩短测试周期。

本发明授权SSD阶段性验证测试方法及存储设备在权利要求书中公布了：1.一种SSD阶段性验证测试方法，其特征在于，所述方法包括： 获取SSD全盘容量随机写性能作为目标性能； 根据所述目标性能调整用户容量，通过测试得到目标容量； 清除全盘容量的用户数据； 根据所述目标容量设置SSD用户容量，进行随机写性能快速测试，得到性能快速测试结果； 其中，所述根据所述目标性能调整用户容量，通过测试得到目标容量，包括：调整SSD的可用容量至当前用户容量，将当前用户容量值设为全盘容量的第一预设比例；对SSD的当前用户容量进行随机写性能测试；将当前用户容量的性能测试结果同所述目标性能对比，如果一致，则将所述当前用户容量的值作为目标容量； 所述方法还包括：将当前用户容量的性能测试结果同所述目标性能对比，如果不一致，则继续调整SSD的当前用户容量，对SSD的当前用户容量进行随机写性能测试，直至当前用户容量的性能测试结果与所述目标性能一致； 所述调整SSD的当前用户容量包括：使用shortstroke方法调整SSD的当前用户容量；其中shortstroke方法为在实际物理空间不变的前提下，根据设定值缩减物理可访问的地址范围，进而减少SSD用户容量做适配，且SSD内部依然可以访问所有的Die，其中，所述Die是NANDFlash的基本组成单元。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人北京忆恒创源科技股份有限公司，其通讯地址为：100192 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园北领地B-2号楼A302室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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