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龙图腾网获悉陕西中融国信电子科技有限公司申请的专利基于计算机视觉的集成电路板芯片表面缺陷识别方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120747073B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511221262.5，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权基于计算机视觉的集成电路板芯片表面缺陷识别方法是由李元昊;任筱;陈兰英设计研发完成，并于2025-08-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于计算机视觉的集成电路板芯片表面缺陷识别方法在说明书摘要公布了：本发明提供了基于计算机视觉的集成电路板芯片表面缺陷识别方法，属于图像处理领域，该方法包括：获取芯片图像，对像素点进行聚类，得到聚类簇，进而得到每一部件内的区域与边缘；将每一部件的边缘分为若干局部边缘；将每一部件的不同局部边缘进行对比，得到形状缺陷区域与形状正常区域；将每一部件内的形状正常区域划分为多个等大的区域，得到每一部件内的待分析区域；将同一部件内不同待分析区域中像素点灰度值的分布进行对比，得到含有表面缺陷的区域。本发明旨在解决由于芯片内部不同部件的形状与颜色有较大差异，使得当前的缺陷检测方法不能很好的适用于芯片内的所有部件的问题。

本发明授权基于计算机视觉的集成电路板芯片表面缺陷识别方法在权利要求书中公布了：1.基于计算机视觉的集成电路板芯片表面缺陷识别方法，其特征在于，包括：获取芯片 封装体图像；根据像素点的灰度值，对芯片封装体图像内的像素点进行聚类，得到若干聚类 簇；将每一聚类簇内的像素点，记为每一部件内的像素点；根据每一部件内的像素点，得到 每一部件内的区域与每一部件的边缘；获取每一部件的边缘上的角点，根据每一部件的边 缘上的角点，将每一部件的边缘分为每一部件的若干局部边缘；根据每一部件的局部边缘 上像素点的分布与数量，得到每一部件的局部边缘的长度与倾斜角；根据同一部件的不同 局部边缘的长度与倾斜角的差异，得到每一部件的局部边缘的缺陷表现程度，进而将所有 部件内的区域分为形状缺陷区域与形状正常区域；将每一部件内的形状正常区域划分为多 个等大的区域，得到每一部件内待分析区域；根据同一部件内不同待分析区域中像素点灰 度值的信息熵的差异与同一部件内不同待分析区域中相同位置的像素点的灰度值的差异， 得到每一部件内每一待分析区域的表面缺陷程度，进而得到含有表面缺陷的区域，完成缺 陷检测；所述得到每一部件的局部边缘的缺陷表现程度的具体计算公式如下：；式中，表示 第个部件的第个局部边缘的缺陷表现程度，表示第个部件的第个局部边缘 与第个局部边缘的差异，表示第个部件的第个局部边缘的长度，表示第个部 件的第个局部边缘的长度，表示第个部件的所有局部边缘的长度中的最大值，表示第个部件的第个局部边缘的倾斜角，表示第个部件的第个局部边缘的 倾斜角，表示第个部件的所有局部边缘的倾斜角中的最大值，表示第个部 件的局部边缘的数量，表示绝对值函数，表示函数， 表示函数，为以自然常数为底的指数函数。

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