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龙图腾网获悉杭州微纳核芯电子科技有限公司申请的专利一种面向存内计算宏单元的内建自测试架构、系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120673828B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511187180.3，技术领域涉及：G11C29/44；该发明授权一种面向存内计算宏单元的内建自测试架构、系统及方法是由任文捷;叶相君;陈沛毓;刘影;王志轩设计研发完成，并于2025-08-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种面向存内计算宏单元的内建自测试架构、系统及方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种面向存内计算宏单元的内建自测试方法、架构及系统，包括执行第一测试模式：在MBIST测试算法的中插入计算激活向量及计算使能指令，以在读操作后进行进行计算测试以检测存储阵列及其与位乘法逻辑之间的耦合故障进行；以及判断存储读取结果和计算结果是否正确，若是，则进入第二测试模式或判定自测试正确并完成检测，否则基于检测结果诊断故障位置。本申请提供的测试方法，在传统MBIST算法中的插入计算使能和计算激活向量，在读操作之后通过对额外执行的乘累加计算操作的验证，在覆盖传统存储器故障类型的前提下，能够进一步有效检测存储单元和计算单元之间的数据耦合这一特有的故障，提高了故障的覆盖率。

本发明授权一种面向存内计算宏单元的内建自测试架构、系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种面向存内计算宏单元的内建自测试方法，其特征在于，包括执行第一测试模式： 在MBIST测试算法的中插入计算激活向量及计算使能指令，以在读操作后进行计算测试以检测存储阵列及其与位乘法逻辑之间的耦合故障；以及 判断存储读取结果和计算结果是否正确，若是，则进入第二测试模式或判定自测试正确并完成检测，否则基于检测结果诊断故障位置； 所述第二测试模式包括： 测试向量权重加载步骤：将ATPG生成的自动测试向量写入对应的存储阵列地址行，并通过“CIM写使能”信号控制写入时序，确保自动测试向量数据正确配置； 激活向量加载与计算触发步骤：在自动测试向量写入完成后，系统同步加载对应的激活向量至计算路径，同时拉高“CIM计算使能”，启动乘累加操作； 结果判断步骤：将测试结果与相邻列进行自比较，若全部自动测试向量测试通过后，拉高“BIST测试通过”信号，并发出“BIST结束”指令；若任一自动测试向量测试未通过，则记录错误位置信息并输出。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人杭州微纳核芯电子科技有限公司，其通讯地址为：311200 浙江省杭州市萧山区宁围街道永晖路233号杭州湾智慧谷大厦；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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