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龙图腾网获悉深圳网联光仪科技有限公司申请的专利太赫兹时域光谱的二维材料测试装置及其参数提取方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116297302B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310209380.9，技术领域涉及：G01N21/3586；该发明授权太赫兹时域光谱的二维材料测试装置及其参数提取方法是由戴福强;徐文;王秋仅;肖宜明;弗朗索瓦·皮特尔斯;李浩文设计研发完成，并于2023-02-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本太赫兹时域光谱的二维材料测试装置及其参数提取方法在说明书摘要公布了：本发明涉及太赫兹时域光谱测量领域，公开了一种太赫兹时域光谱的二维材料测试装置及其参数提取方法。装置包括：分束器，用于透射光源光线形成第一分束光线，以及用于反射光源光线形成第二分束光线；多个金属反射镜，用于反射调整光路；半波片，用于保证第一分束光线形成线偏振光线；LiNbO3晶体片，用于第一分束线偏振光线激发产生太赫兹光线；多个抛物面镜，用于反射太赫兹光线照射二维材料形成含材料测量信息的THz光线；材料衬底，用于放置二维材料；硅片，用于反射第二分束光线以及透射含材料测量信息的THz光线使其共线形成分析入射光线；光谱分析器，用于电光采样和计算分析入射光线，根据提取参数公式生成二维材料的测试结果。

本发明授权太赫兹时域光谱的二维材料测试装置及其参数提取方法在权利要求书中公布了：1.一种太赫兹时域光谱的二维材料参数提取方法，其特征在于，所述太赫兹时域光谱的二维材料参数提取方法包括： 产生光源光线射入分束器中，得到第一分束光线和第二分束光线； 利用多个金属反射镜的反射调整第二分束光线，使得第二分束光线射入硅片； 利用多个金属反射镜的反射调整第一分束光线，使得第一分束光线射入半波片中，保证线偏振光线经过LiNbO3晶体片衍射生成太赫兹激发光线； 利用多个抛物面镜反射调整太赫兹激发光线，使得太赫兹激发光线射入材料衬底上的二维材料生成含材料测量信息的THz光线； 利用多个抛物面镜反射调整材料测量信息的THz光线，使得材料测量光线射入硅片； 利用硅片接收第二分束光线和材料测量信息的THz光线形成分析入射光线，以及控制分析入射光线进入光谱分析器中； 光谱分析器基于预置的信号采集算法，生成二维材料的光电导率； 所述光谱分析器基于预置的信号采集算法，生成二维材料的光电导率包括： 将反射测量数据代入信号分析公式中，得到二维材料的光电导率，其中，所述信号分析公式包括： 将透射测量数据代入信号分析公式中，得到二维材料的光电导率，其中，所述信号分析公式包括： 其中，当使用平坦的电介质或金属表面作为参考是透射参考电场，是样品测量电场，ΔΨ为测量相位差，tω为测量振幅比，为测量复反射函数值，为衬底透射系数，为样品透射系数，其中，其中，ETHzω是入射太赫兹的电场，是反射参考电场，是样品测量电场，ω是角频率，为空气传递因子，ΔΦ为测量相位差，rω为测量振幅比，为测量复反射函数值，为衬底反射系数，为样品反射系数，θin为入射角度，n为空气折射率，n为衬底折射率，Z为自由空间阻抗，为样品p偏振复光导率，为样品S偏振复光导率。

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