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龙图腾网获悉恒烁半导体(合肥)股份有限公司申请的专利一种FLASH芯片检测设备及检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115938463B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211693981.3，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种FLASH芯片检测设备及检测方法是由吕向东;陈真;杨帅设计研发完成，并于2022-12-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种FLASH芯片检测设备及检测方法在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片检测领域，具体为一种FLASH芯片检测设备及检测方法。其包括机箱、芯片下料机构、送片机构、高温检测机构和驱动机构；机箱顶部具有进片通道，机箱下部具有出片通道；芯片下料机构包括环形的料带、均匀分布在料带外周面上的多个料架和用于将料带撑开并带动料带转动以使料架带动FLASH芯片由上至下穿过进片通道的转动辊机构；送片机构输送起始端与芯片下料机构底端衔接，其输送终点端位于机箱的出片通道外侧；高温检测机构包括检测箱、加热器、支架d和封堵组件，检测箱沿送片机构输送方向的两端分别设置有进片口和出片口，加热器设置在检测箱内，封堵组件共设置两组。本发明能准确的输送FLASH芯片以使其准确的进入检测箱内进行加热。

本发明授权一种FLASH芯片检测设备及检测方法在权利要求书中公布了：1.一种FLASH芯片检测设备，其特征在于，包括： 机箱36，其顶部具有进片通道361，下部具有出片通道362； 芯片下料机构，其包括环形的料带1、均匀分布在料带1外周面上的多个料架5和用于将料带1撑开并带动料带1转动以使料架5带动FLASH芯片由上至下穿过进片通道361的转动辊机构； 送片机构，其输送起始端与芯片下料机构底端衔接，其输送终点端位于机箱36的出片通道362外侧； 高温检测机构，其包括检测箱11、加热器12、支架d37和封堵组件，检测箱11设置在支架d37上，支架d37设置在机箱36上，检测箱11沿送片机构输送方向的两端分别设置有进片口111和出片口112，加热器12设置在检测箱11内，封堵组件共设置两组，两组封堵组件分别位于进片口111和出片口112处； 以及用于驱动转动辊机构、送片机构和封堵组件间歇性运动以间歇性的将料架5上的FLASH芯片先输送至送片机构上再输送至检测箱11内然后封堵进片口111和出片口112进行高温加热的驱动机构。

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