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复旦大学杨洋获国家专利权

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龙图腾网获悉复旦大学申请的专利基于CCD的X射线光谱极弱信号的解析方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114118161B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-11发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202111451271.5,技术领域涉及:G06F18/24;该发明授权基于CCD的X射线光谱极弱信号的解析方法是由杨洋设计研发完成,并于2021-12-01向国家知识产权局提交的专利申请。

基于CCD的X射线光谱极弱信号的解析方法在说明书摘要公布了:本发明提供了一种基于CCD的X射线光谱极弱信号的解析方法,用于对由CCD获取的X射线光谱文件进行解析,先从X射线光谱文件对应的计数矩阵中获取X光线光子的入射位置;对入射位置周围的像素进行计数累加,并获取X光线光子引起的净计数;基于净计数,按照预定的筛选规则选出所关注光谱范围内的真事件;基于真事件,重构二维光谱,从而得到重构后光谱。通过本发明的基于CCD的X射线光谱极弱信号的解析方法,能够极大地提升CCD输出的光谱文件的信噪比,且不改变光谱中信号数据,从而从重构后光谱文件中获取可以进行处理和分析谱线信息。

本发明授权基于CCD的X射线光谱极弱信号的解析方法在权利要求书中公布了:1.一种基于CCD的X射线光谱极弱信号的解析方法,用于对由CCD获取的X射线光谱文件进行解析,其特征在于,包括如下步骤: 步骤S1-1,利用二维高斯拟合方法从所述X射线光谱文件对应的计数矩阵中获取X光线光子的入射位置; 步骤S1-1-1,利用预定的计数方法从所述X射线光谱文件中统计得到最高概率计数值,以及该最高概率计数值对应的半高全宽; 步骤S1-1-2,依次判断所述计数矩阵中每个计数是否大于所述最高概率计数值与半高全宽的和; 步骤S1-1-3,在所述步骤S1-1-2判断为是时,将对应的计数作为待评估中心计数,计算该待评估中心计数预定范围内计数的初始重心位置; 步骤S1-1-4,依次判断所述初始重心位置是否满足预定的条件,在判断为是时,将该初始重心位置作为所述X光线光子的入射位置; 步骤S1-2,对所述入射位置周围的像素进行计数累加,并获取所述X光线光子引起的净计数; 步骤S1-3,基于所述净计数,按照预定的筛选规则选出所关注光谱范围内的真事件; 步骤S1-4,基于所述真事件,重构二维光谱,从而得到重构后光谱。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人复旦大学,其通讯地址为:200433 上海市杨浦区邯郸路220号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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