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龙图腾网获悉桂林理工大学申请的专利一种基于类圆锥扫描的机载测深激光雷达系统结构误差的检校方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119471645B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-11-07发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411594674.9，技术领域涉及：G01S7/497；该发明授权一种基于类圆锥扫描的机载测深激光雷达系统结构误差的检校方法及装置是由周国清;梁刚;秦国富;高汉文设计研发完成，并于2024-11-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于类圆锥扫描的机载测深激光雷达系统结构误差的检校方法及装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于类圆锥扫描的机载测深激光雷达系统结构误差的检校方法及装置，包括：建立结构误差检校场；建立全局控制坐标系，利用全站仪获取全局控制点、测站点、局部控制点和机载测深激光雷达反射镜中心的坐标；基于激光雷达获取反射镜中心到激光反射贴上激光脚点的斜距和驱动电机转角，并利用全站仪获取激光脚点坐标；基于激光扫描参考坐标系与全局控制坐标系之间的位移和旋转几何关系，根据斜距、驱动电机转角和激光脚点坐标构建误差方程；基于最小二乘间接平差原理，迭代求解误差方程，得到机载测深激光雷达系统的结构误差值。本发明可通过精确获取类圆锥扫描式机载测深激光雷达的结构误差值，显著提高整个测深系统的测量质量和可靠性。

本发明授权一种基于类圆锥扫描的机载测深激光雷达系统结构误差的检校方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种基于类圆锥扫描的机载测深激光雷达系统结构误差的检校方法，其特征在于，所述方法包括： 在检校场目标平面内布设多个全局控制点、局部控制点和激光反射贴，在所述检校场内布设两个测站点； 建立全局控制坐标系，利用全站仪获取所述全局控制点在所述全局控制坐标系中的坐标； 基于所述全局控制点在所述全局控制坐标系中的坐标，利用后方交会法和三角高程测量法获取所述测站点在所述全局控制坐标系中的坐标； 基于所述测站点在所述全局控制坐标系中的坐标，利用前方交会法和三角高程测量法获取所述局部控制点和机载测深激光雷达反射镜中心在所述全局控制坐标系中的坐标； 基于所述激光雷达获取所述反射镜中心到所述激光反射贴上激光脚点的斜距和驱动电机转角； 基于所述局部控制点在所述全局控制坐标系中的坐标，利用全站仪获取所述激光脚点在所述全局控制坐标系中的坐标； 基于激光扫描参考坐标系与所述全局控制坐标系之间的位移和旋转几何关系，根据所述斜距、所述驱动电机转角和所述激光脚点在所述全局控制坐标系中的坐标构建误差方程，包括： 以所述反射镜中心为原点，载体飞行方向为Y轴方向，Z轴竖直向上，X轴与Y、Z轴构成右手系，建立激光扫描参考坐标系，理论上，入射激光与驱动电机转轴在XZ平面内并沿X轴负方向水平入射至所述反射镜中心，旋转所述激光雷达使激光扫描参考坐标系的X、Y、Z轴方向与所述全局控制坐标系的X、Y、Z轴方向相同； 令所述激光脚点的所述斜距为S，所述驱动电机转角为θ，所述激光脚点在所述激光参考坐标系中的坐标计算公式为 ； 其中，fx、fy和fz分别为所述机载测深激光雷达的兼顾误差的定位模型关于x、y和z坐标的计算公式，μ,Δω,Δη,ΔS,Δθ为结构误差参数，分别代表水平入射光线与X轴的夹角，所述入射光线与所述驱动电机转轴夹角误差，反射镜法线与所述驱动电机转轴夹角误差，激光测距误差和所述驱动电机转角误差； 令所述反射镜中心在所述全局控制坐标系中的坐标为ΔX,ΔY,ΔZ，所述激光脚点在所述全局控制坐标系中的坐标为 ； 其中，F为检校模型，共有8个待定参数μ,Δω,Δη,ΔS,Δθ,α,β,γ，Rα,β,γ为所述激光扫描参考坐标系到所述全局控制坐标系的旋转矩阵，计算公式为 ； 其中，α,β,γ分别为绕Y、X、Z轴的旋转角度； 对所述检校模型线性化得到误差方程： ； 其中，XG,YG,ZG为全站仪测量得到的所述激光脚点在所述全局控制坐标系中的坐标，XG,YG,ZG为将所述斜距、所述驱动电机转角和各待定参数的近似值代入所述检校模型求解得到的所述激光脚点在所述全局控制坐标系中的坐标； 基于最小二乘间接平差原理，迭代求解所述误差方程，得到机载测深激光雷达系统的结构误差值。

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